+7 (495) 909-89-53

EddyCus® TF lab

EddyCus-TFlab-4040thin-film-measurement-device.jpg__2000x1333_q85_crop_subsampling-2_upscalesheet-resistance-sinlgepoint-measurement-device.jpg__2000x1333_q85_crop_subsampling-2_upscaleEddyCus-TFlab-2020EddyCus_TF_lab_4040_Hybrid_Sheet_Resistance_Tester_freesheet-resistance-testing-measurement-field-tf-lab-4040.jpg__320x240_q85_crop_subsampling-2_upscalethin-film-sheet-resistance-measurementfield-tf-lab-4040.jpg__320x240_q85_crop_subsampling-2_upscalesheet-resistance-measurement-sensor-tf-lab-4040.jpg__320x240_q85_crop_subsampling-2_upscale

SURAGUS GmbH (Германия) - немецкая компания, специализирующаяся на предоставлении решений для неразрушающего контроля материалов (Измерение удельного сопротивления материалов и пленок - sheet-resistance-measurements for thin films characterization). Компания использует новые технические возможности и технические достижения в области микроэлектроники, технологии производства и миниатюризации, а также компьютерные технологии для разработки решений в электроиндуктивной дефектоскопии для нужд заказчиков.

Общие применения разнообразны и включают в себя архитектурные стекла, датчики сенсорных панелей, дисплеи, приложения OLED, PV, смарт-стекло, прозрачные антистатические пленки или фольги, нагревательные приборы и многое другое. Типичными тестируемыми (измеряемыми) материалами являются металлические слои (например, Ag, Cu, Al), TCO (например, ZnO, ITO, FTO), углеродные нанотрубки (CNT), металлические нанопровода, графен, легированные кремниевые пластины и многие другие. Серия EddyCus TF включает стандартные и индивидуальные решения для лабораторных (lab) и линейных приложений (inline), а также для картографирования с высоким разрешением (map) и переносных решений (partable).

EddyCus® TF lab  производства SURAGUS GmbH (Германия)  - лабораторный прибор для измерения толщины и поверхностного сопротивления пленок. Измерение в одной точке.

EddyCus® TF lab - настольная система для бесконтактного измерения поверхностного сопротивения и толщины пленок. Системы предназначены для быстрой и точной бесконтактной характеризации пленок в научно-исследовательских лабораториях, исследовательских центрах и отделах обеспечения качества производственных площадок. Каждая система оснащена простым в использовании программным обеспечением для измерения толщины тонких пленок, толщины стенок и измерения удельного поверхностного сопротивления пленок.

Применение:
Архитектурное стекло (LowE)
Дисплеи, сенсорные экраны 
OLED и LED применения
Смарт-стекла
Графеновые слои
Фотовольтаика
Полупроводниковые пластины
Слои метализации
Слои для борьбы с обледенением 
Электроды батарей
Упаковочная пленка или фольга
Проводящая бумага и проводящий текстиль

Измеряемые параметры:
Поверхностное сопротивление R_sq [Ом/квадрат]
Толщина металлических слоев [мкм, нм]
Инфо-тип (Emissiv­ity) (e)

Особенности

  • Метод измерения - бесконтактный, в режиме реального времени
  • Измерение в одной точке.
  • Диапазон измерения поверхностного сопротивления: от 0,001 до 5000 Ом / кв. (Более низкий диапазон по запросу).
  • Размер подложек: до 200 х 200 мм или до 400 х 400 мм
  • Диапазон  измерения толщины: 2 нм - 2 мм (в соответствии с удельным сопротивлением пленки)
  • Толщина подложек (gap size): 1/5/15/25 мм
  • Опционально: Одновременное измерение оптической прозрачности (TF lab Hybrid) 
  • Опционально: Измерение анизотропии удельного поверхностного сопротивления
  • Интерфейс на базе Windows 
Брошюра TF lab 2020 в PDFБрошюра TF lab 4040 в PDFБрошюра TF lab 4040 Hybrid в PDF

Видеопрезентация TF lab 2020

Видеопрезентация TF lab 4040

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее