SURAGUS GmbH (Германия) - немецкая компания, специализирующаяся на предоставлении решений для неразрушающего контроля материалов (Измерение удельного сопротивления материалов и пленок - sheet-resistance-measurements for thin films characterization). Компания использует новые технические возможности и технические достижения в области микроэлектроники, технологии производства и миниатюризации, а также компьютерные технологии для разработки решений в электроиндуктивной дефектоскопии для нужд заказчиков.

Общие применения разнообразны и включают в себя архитектурные стекла, датчики сенсорных панелей, дисплеи, приложения OLED, PV, смарт-стекло, прозрачные антистатические пленки или фольги, нагревательные приборы и многое другое. Типичными тестируемыми (измеряемыми) материалами являются металлические слои (например, Ag, Cu, Al), TCO (например, ZnO, ITO, FTO), углеродные нанотрубки (CNT), металлические нанопровода, графен, легированные кремниевые пластины и многие другие. Серия EddyCus TF включает стандартные и индивидуальные решения для лабораторных (lab) и линейных приложений (inline), а также для картографирования с высоким разрешением (map) и переносных решений (partable).

EddyCus® TF portable  производства SURAGUS GmbH (Германия)  - переносной прибор для измерения  толщины и поверхностного сопротивления пленок. 

EddyCus® TF portable - это портативное измерительное устройство для быстрого бесконтактного измерения покрытий на больших стеклах и фольгах и пленках как в производстве, так и в полевых условиях, например, для быстрой проверки качества после изготовления или в качестве входящего контроля продукции. Портативное устройство даже позволяет измерять скрытые и инкапсулированные слои. Это простое в использовании устройство, которое управляется с помощью сенсорного дисплея.

Применение:
Архитектурное стекло (LowE)
Зеркальные покрытия
Светоотражающие слои
Упаковочная пленка или фольга
Электродные слои в "умных" / электрохромных стеклах и накопителях энергии
Аккумуляторные батареи
Проводящая бумага и проводящий текстиль

Измеряемые параметры:
Поверхностное сопротивление R_sq [Ом/квадрат]
Толщина металлических слоев [мкм, нм]
Инфо-тип (Emissiv­ity) (e)

Особенности

• Метод измерения - бесконтактный, в режиме реального времени
• Диапазон измерения поверхностного сопротивления: от 0,2 до 50 Ом / кв. (Более низкий диапазон по запросу).
• Диапазон измерени толщины проводящих пленок от 5 нм до 500 мкм
• Размер пятна измерения / зона чувствительности диаметром 40 мм (1,6 дюйма)
• Интерфейс передачи данных Bluetooth 

Брошюра в PDF

Видеопрезентация

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru