+7 (495) 909-89-53

S mart - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений

S mart - portable packS mart - complete systemS mart_mainS mart (SH) - lateral viewS mart (SH) - front viewS mart - Interferometry measurementS mart - FV measurementS mart - Confocal measurementS mart portable - CMP 2S mart portable - CMP AMAT 1S mart sensor - Univ Leuven 1S mart sensor - Univ Leuven 3S mart sensor - Univ Leuven 9S mart sensor - Univ Leuven 8

S mart производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений или измерений в производственом процессе. S mart новое слово в оптической 3D профилометрии. S mart объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. Прибор можетустанавливаться на обрабатывающие станки и центра для контроля обработки деталей и образцов. 
Прибор выполнен с пылезащищенном исполнении.
Измерение шероховатости до 10 нм! Уголо до 86о
Разрешение по Z  - 2 нм.

Применение:
Машиностроение
Материаловедение  
Энергетика
Криминалистика
Контроль лазерной гравировки
Микроэлектроника 
Микромеханика
Оптика
Полупроводники
Потребительская электроника
Фотовольтика
Дисплеи

Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, VSI)
Изменение фокуса (Focus Variation)

Особенности

  • Максимальное измерение шроховатости до 10 нм!
  • Разрешение по Z - 2 нм. Перемещение - 40 мм.
  • Удаленный котроль через SDK
  • S mart разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества в процессе или после обработки материалов.
  • Основанный на технологии микро-дисплея, S mart позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S mart является отличным аналитическим инструментом.
  • S mart позволяет измерять шероховатость поверхности до 10 нм. Оснащен двойным вертикальным сканером. 
  • S mart использует CCD сенсор высокого разрешения. Прибор имеет LED источник света внутри оптического ядра: белый (550 нм), который улучшают латеральное разрешение и длину когерентности оптического излучения.
  • Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
  • S mart может поставляться как решеие для интеграции оптической головы в станок или установку или как переносное портативное настольное решение. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
  • Регулировка по Z - 40 мм моторизованная, 200 мкм с пьезосканером, 150 мм ручная регулировка колонны (опционально)
  • Мощное программное обеспечение SensoSCAN 6.0 
Флаер S mart в PDFПрезентация - контроль шероховатости полировальника после ХМП
Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее