S neox - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

Новый S neox производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп. S neox новое слово в оптической 3D профилометрии. S neox объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей.
Новый S neox стал в 5 раз быстрее!

ВНЕСЕН В РЕЕСТР СИ.

Применение:

• Машиностроение и авиакосмическая отрасль
• Материаловедение  
• Энергетика
• Криминалистика
• Контроль лазерной гравировки
• Микроэлектроника 
• Микромеханика
• Оптика
• Полупроводники
• Потребительская электроника
• Фотовольтика
• Дисплеи
• Часовая промышленность

Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, СSI)
Изменение фокуса (Ai Focus Variation)
Confocal Fusion
Опционально DIC (ДИК)



Теперь достпупны измерения в 5-ти осях с S neox Five Axis.

Особенности

• Максимальное разрешение по оси Z  - 0,5 нм!
• Максимальный диапазон измерений по Z: PSI (20 мкм, CSI 10 мм, Confocal 34 мм)
• Мотризованный револьвер на 6 объектвов в базовой комплектации
• Встроенное измерение тонких пленок
• Измерения в 5-ти осях с S neox Five Axis.
• S Neox разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества
• Основанный на технологии микро-дисплея, S neox позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S neox является отличным аналитическим инструментом.
• S neox позволяет измерять тонкие пленки без установки спектроскопического рефлектометра. (измерение SiO2, Фоторезиста) в диапазоне от 50 нм до 1,5 мкм.
• S neox имеет дискретность измерения от 0,5 нм до нескольких нм, оснащен двойным вертикальным сканером, который работает в комбинации с прецизионным подвижным столиком и пьезо-сканером. Это позволяет добиться наивысшей точности и повторяемости измерений среди приборов, представленных сегодня на рынке.
• S neox использует камеру высокого разрешения 2442 х 2048 пиксела (60fps) в комбинации с дисплеем высокого разрешения 2560 х 1440 пикселов. Прибор имеет четыре LED источника света внутри оптического ядра: красный (630 нм), зеленый (530 нм), голубой (460 нм) и белый (575 нм), которые улучшают латеральное разрешение и длину когерентности оптического излучения.
• Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
• S neoх полностью готовый к работе прибор. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
• Столики для S neox с перемещением: 40x40 ручной, Моторизованные 114х75 мм, 150х150 мм, 250х200, 300х300 мм, 600х600 мм
• Регулировка по Z - 40 мм моторизованная с разрещение 5 нм, 200 мкм с пьезосканером с разрешением 0,5 нм, 150 мм или 350 мм ручная регулировка колонны (опционально)
• Мощное программное обеспечение SensoSCAN 7.0