+7 (495) 909-89-53

Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 5 производства OXFORD Instruments

Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 5 производства OXFORD Instruments –являются универсальными приборами и позволяют проводить высокоточные измерения в различных областях.

Рентгенофлуоресцентные толщиномеры MAXXI 5 являются универсальными приборами и позволяют проводить высокоточные измерения в различных областях.

- Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности
- Измерение толщины однослойных и многослойных покрытий (4 слоя покрытия + основание)
- Анализ химического состава сплавов без ограничения по количеству элементов
- Анализ гальванических растворов на содержание основных металлов (предел обнаружения от 0,2 г/л)
- Анализ покрытия в заданных точках поверхности с помощью набора коллиматоров и программируемого тока трубки с учетом размера коллиматора
- Серийные измерения и автоматическая разбраковка: программируемое движение XYZ столика и измерительной головки
- Анализ покрытий на образцах неровной формы (печатные платы, проволока и т.д.)
- Низкие пределы обнаружения при анализе материалов, включая пластик

Особенности и применение

  • Анализ гальваническийх и химических покрытий

  • Измерение толщины покрытия на выводах электронных компонентов

  • Измерение толщины проводников и контактных площадок на печатных платах

  • Утилизация электронных компонентов (RoHs)

  • Анализ ювелирных изделий

  • Анализ элементов солнечных батарей

  • Входной контроль химического состава различных сплавов

  • Анализ электролитов

Запросить брошюру в PDF

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее