+7 (495) 909-89-53

Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий X-Strata 920 производства OXFORD Instruments

Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий X-STRATA 920 производства OXFORD Instruments для неразрущающего анализа толщины многослойных покрытий и определения химического состава без предварительной подготовки поверхности.

Толщиномер покрытий X-STRATA 920 - это рентгено-флюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий и элементного состава в широком спектре материалов, измеряемые элементы от Ti22 до U92

Особенности и применение

  • Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности

  • Возможность работы в режиме 24/7

  • 100 % входной контроль

  • Быстрый, точный, надежный

  • Диапазон измеряемых элементов от Ti до U

  • Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)

  • Одновременно анализ химического состава по 25 элементам

  • Анализ покрытия в заданных точках поверхности

  • Анализ маленьких образцов площадью от 150 мкм.

  • Анализ растворов

  • Анализ покрытий на образцах неровной формы (печатные платы, проволока и т.д.)

  • Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %

  • Экспорт результатов в Excel, Программа для создания отчетов

  • Гибкое программное обеспечение на базе Метода Фундаментальных Параметров SmartLink® FP на базе платформы Windows® XP, со встроенным генератором отчетов Report Generator LE

  • Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция

  • Одновременный анализ до 25 химических элементов

  • Аналитические методы в соответствии с ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321

  • Oxford Instruments самостоятельно изготавливает рентгеновскую трубку мощностью 50W (вольфрам) которая сочетает в себе высокую стабильность, более короткое время измерения, надежность и длительный срок жизни.

  • Высокое разрешение Xe пропорционального детектора обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых уровнях энергий и улучшает диапазон обнаружения элементов

  • 4096 каналов цифрового многоканального анализатора обеспечивают высокую скорость проходящего сигнала, коррекцию времени простоя и пульсаций для лучшей статистики измерений

  • Термическая стабилизация и программная функция Spec-Cal, возможность внутреннего тестирования и автоматическая коррекция, обеспечивают хорошую стабильность во времени

  • Коллиматор 0,3 мм обеспечивает оптимальную фокусировку потока, расширяя возможности измерения (заказывается дополнительно)

  • Приспособление для первичной фильтрации оптимизирует условия возбуждения и улучшает соотношений сигнал/шум

  • Лазер автоматически определяет правильное положение фокуса по оси Z на определенном расстоянии от анализируемой поверхности, улучшая тем самым точность результата

  • Размеры измерительного стола: 560 мм х 600 мм, максимальная высота образца 33 мм (возможно 160 мм)

  • Oxford Instruments поставляет сертифицированные стандарты (по толщинам) обеспечивая надежность результатов

  • Надежный и прочный корпус позволяет эксплуатировать анализатор в производственных условиях

  • Компактный дизайн позволяет разместить анализатор на небольшой рабочей поверхности

  • Сервисная поддержка по всему миру осуществляется экспертами в области рентгеновской флюоресценции

  • Анализатор является высочайшим достижением за более чем 25-ти летний опыт работы Oxford Instruments

Запросить брошюру в PDF

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее