+7 (495) 909-89-53

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр SmartLab

Многофункциональный рентгеновский дифрактометр SmartLab производства RIGAKU (Япония).

Rigaku SmartLab объединил в себе самые передовые разработки в области рентгеновской дифракции, высокий уровень автоматизации, а так же полностью модульную конструкцию. Система оснащена вертикальным θ/θ гониометром высокого разрешения с горизонтально расположенным столом, оптикой перекрестных лучей (CBO оптика), In-plane геометрией, и 9 кВт источником излучения с вращающимся анодом (опция).

Уже в базовой комплектации SmartLab оснащается запатентованной Rigaku оптикой перекрестных лучей(CBO – Сross Beam Optics). Применение этой технологии делает возможным быстрое переключение между пара-фокальной геометрией Брегга-Брентано (Bragg – Brentano geometry) для порошковой дифрактометрии и геометрией параллельного пучка для исследований в области тонких пленок и эпитаксиальных структур. Пользователь может легко переключаться между этими двумя геометриями без необходимости снятия, замены или дополнительной юстировки рентгенооптических компонентов дифрактометра.

Дифрактометр оснащается приставкой SAXS для Малоуглового Рентгеновского Рассеяния (Small Angle X-ray Scattering). Данная оптика предназначена для измерения структур в диапазоне от 1 до 100 нм, как в режиме Проходящего Малоуглового Рассеяния (вращение капилляра) так и в режиме Скользящего Падения Пучка (GISAXS – Graizing Incidence Small – Angle X-ray Scattering). Малоугловое Рентгеновское Рассеяние является мощным методом, используемым для определения размеров и формы частиц. Требования к точности определения формы и размера ноно-объектов важны и постоянно возрастают во всем мире при исследовании новых материалов и полупроводников.

Приставка СВО-f на основе поликапиллярной оптики позволяет формировать точку фокусировки высокой интенсивности 100 мкм для микро-дифракционных экспериментов. Приставка In-Plane предоставляет дополнительную ось сканирования, ортогональную к плоскости θ/2θ, что позволяет проводить измерения плоскостей кристаллической решетки перпендикулярных к поверхности образца. Возможность осуществления сканирования в двух взаимно-перпендикулярных плоскостях без необходимости перенастройки системы является революционным прорывом в дифрактометрии тонких пленок. Использование In-plane геометрии позволяет проводить анализ пленок толщиной до 1 нм. В такой геометрии можно определять параметры решетки в плоскости образца, а также определять ориентационные соотношения в системе пленка/подложка, что недоступно при использовании стандартной геометрии.

Доступны четыре монохроматора на падающий пучок {Ge(220) двухкристальный, Ge(220) четырехкристальный, Ge(400) двухкристальный, Ge(440) четырехкристальный} и два монохроматора на анализатор {Ge(220) двухкристальный и Ge(400) четырехкристальный}, что позволяет проводить РСА среднего и высокого разрешения и измерения отражательной способности совершенных кристаллов, эпитаксиальных слоев и тонкопленочных многослойных структур с разрешением до 5 угловых секунд.

В зависимости от решаемых задач SmartLab может быть оснащен тремя типами детекторов: точечный сцинтилляционный детектор, кремниевый полосковый высокоскоростной 1D детектор D/tex, и 2D КМОП детектор Pilatus (размер активной зоны: 83,8x70мм²).

Важной особенностью SmartLab является программное обеспечение "SmartLab Guidance". Оно обеспечивает интеллектуальный интерфейс между прибором и пользователем, помогая в выборе оптимальной аппаратной конфигурации, и обеспечивая полностью автоматизированную калибровку оптики, образца, щелей и других узлов прибора, что позволяет свести к минимуму время настройки и сосредоточиться на получении результата для пользователей с любым уровнем подготовки. Интегрируемые программные пакеты позволяют проводить практически любой возможный эксперимент в области рентгеноструктурного анализа.

Применение

  • Порошковые материалы: фазовый анализ, измерение размера кристаллитов, определение степени кристалличности, структурный анализ и уточнение параметров решетки, измерение напряжений, фазовый анализ в зависимости от температуры от комнатной до 1500°С.
  • Тонкие пленки: Структурный анализ, текстурный анализ, In-plane дифракция, анализ качества кристаллов (кривых качания (RC – Rocking Curves), картирование обратного пространства (RSM – Reciprocal Space Mapping)), рентгеновская дифракция высокого разрешения и рентгеновская рефлектометрия (HRXRD и HRXRR – High Resolution X-ray Reflectivity), профилирование методом скользящего пучка (GIXRD – Graizing Incidence X-ray Diffraction), 2D-стресс измерение (2 –Dimensional Stress Analysis), измерение полюсных фигур (PF Measurements – Pole Figure Measurements), фазовый анализ в зависимости от температуры от комнатной до 1100°С.
  • МУР – Малоугловое Рентгеновское Рассеяние (SAXS): распределение частиц и пор по размерам, корреляционный анализ, анализ наноразмерных структур, содержащих атомы и молекулы, измерение структуры и динамики биологических макромолекул, жидкостей.
  • Микродифракция: рентгеноструктурный анализ с возможностью точного и аккуратного позиционирования рентгеновского пучка размером до Ø100 мкм на малых площадях, дифракционное картирование по площади 100x100мм² (DFM – Diffraction Function Mapping).

Запросить брошюру в PDF

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее