+7 (495) 909-89-53

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с холодным катодом JEOL серии JSM-7500F

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с полевой эмиссией с холодным катодом производства JEOL (Япония) серии JSM-7500F

Особенности

JSM-7500F – это растровый электронный микроскоп с «холодным» (автоэмиссионным) катодом, который сочетает в себе простоту управления, большой срок службы катода, аналитические возможности, а также экономичность в энергопотреблении. Холодный катод и объективная линза открытого типа (semi-in-lens) позволяют получать изображения с высоким разрешением и контрастом при малых токах пучка и низких ускоряющих напряжениях. Это особенно важно при работе с деликатными, чувствительными к пучку, образцами – полимерами, биологическими образцами, полупроводниками и т.п. Также JSM-7500F по умолчанию комплектуется автоматической шлюзовой камерой, что существенно снижает время замены образца, уменьшает скорость загрязнения камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления и продлевает срок службы катода и диафрагм в несколько раз. Однако даже использование шлюза не мешает работать с большими образцами: до 200 мм в диаметре и до 40 мм высотой.

Кроме того, JSM-7500F, благодаря встроенной активной антивибрационной системе, очень устойчив к дрожанию пола и акустическим шумам. Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс делает легким управление этим прибором даже для новичка. Экорежим, позволяющий включать РЭМ в определенное время (например, за полчаса до начала рабочего дня), выключать или вводить в его «спящий» режим по завершении запланированного цикла исследований, позволяет экономить от 25 до 55% электроэнергии и рабочее время обслуживающего персонала.

JSM-7500F является прекрасным инструментом для решения задач в области нанотехнологий, материаловедения и биологии.

Основные преимущества:

• Автоэмиссионный («холодный») катод обладает большим сроком службы (более 5 лет) и обеспечивает очень яркий пучок электронов с малым разбросом по энергии; 
• Стабильная, высоконадежная электронно-оптическая колонна JSM-7500F позволяет добиваться высоких разрешений (0,6 нм при 30 кВ в ПРЭМ-режиме и 1,0 нм при 15 кВ в режиме регистрации вторичных электронов); 
• Встроенная активная антивибрационная система позволяет получать прекрасные изображения в условиях, далеких от идеальных; 
• Доступность большого количества детекторов различных типов, в том числе LABE, RBEI, SEI, LEI. Низкоугловой детектор отраженных электронов (LABE) прекрасно работает при малых энергиях электронного пучка (вплоть до 100 эВ), позволяя получать информацию и об однородности состава, и о топологии поверхности образца, а также решает проблему с накоплением заряда на поверхности диэлектрических образцов; 
• Интерфейс пользователя делает возможным одновременное наблюдение на экране монитора сигналов с 4 различных детекторов в режиме реального времени; 
• Встроенный в электронно-оптическую колонну r-фильтр позволяет четко разделять сигналы от вторичных и обратнорассеянных (отраженных) электронов, а также смешивать их между собой в заданных пропорциях; 
• Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму, существенно увеличивает долю электронов, достигающих поверхности образца, позволяя тем самым экономнее расходовать ресурс эмиттера; 
• Режим торможения пучка (Gentle Beam), который замедляет электроны перед падением на поверхность образца, сильно снижает повреждения, наносимые пучком, а также позволяет избежать зарядки образцов с плохой электропроводностью; 
• Доступность различных типов шлюзов позволяют выбрать оптимальный, включая шлюз с автосменщиком образцов; 
• Устанавливаемая в камере образцов криогенная ловушка уменьшает загрязнение колонны при работе с испаряющимися под электронным пучком образцами и, тем самым, продлевает ресурс электронно-оптической колонны; 
• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 200 мм и высотой до 40 мм, а также одновременно устанавливать множество разнообразных аналитических приставок (энергодисперсионный спектрометр, детектор дифракции отраженных электронов, детектор катодолюминесценции, рамановский спектрометр и т.п.).

Характеристики

Разрешение 1,0 нм (15 кВ),
1,4 нм (1 кВ),
0,6 нм (30 кВ, ПРЭМ-режим
Ускоряющее напряжение 100 В - 30 кВ
Шаг измерения ускоряющего напряжения от 0,1 кВ до 2,9 кВ - шаг 10 В
от 3,0 кВ до 30,0 кВ - шаг 100 В
Диапазон увеличений от х25 до x1 000 000  (в пересчете на площадь фотопластины 120 мм х 90 мм)
Ток пучка 1 пА - 2 нА
Линза, оптимизирующая угол вхождения пучка в диафрагму Встроена по умолчанию
Энергетический фильтр Встроен. Управляется напряжением
Катод Автоэмиссионный («холодный») катод
Режим торможения пучка «Gentle Beam» Доступен в базовой комплектации
Вакуум  10-300 Па
Предметный столик

Полностью эвцентрический гониометрический столик
Моторизованный по 5-ти осям
Диапазоны перемещений образца для различных типов столиков:
X: 70 мм, Y: 50 мм, Z: 38,5 мм (тип IA)
X: 110 мм, Y: 80мм, Z: 38,5 мм (тип II)
X: 140 мм, Y: 80мм, Z: 23,5 мм (тип III)
Диапазоны углов наклона образца для различных типов столиков:
от -5° до +70° (тип IA)
от -5° до +60° (тип II)
от -5° до +60° (тип III)

Вращение: 360°

 Максимальный диаметр образца

Диаметр: 200 мм 
Высота: 40 мм 
(с использованием столика образцов типа III и 8-дюймового шлюза)

Диапазон рабочих отрезков

от 1,5 до 25 мм

Вакуумный шлюз

Входит в базовую комплектацию

Вакуумная система

Полностью автоматизирована
Сорбционно-ионный насос (SIP) – 2 шт.
Турбомолекулярный насос (TMP)
Форвакуумный насос (RP)
Криоловушка

Операционная система для MS Windows

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с холодным катодом JEOL серии JSM-7500F

Также Вас может заинтересовать
Новейший сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-7800F PRIME

Новейший РЭМ с термополевым катодом JSM-7800F Prime позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ, благодаря обновленному, по сравнению с предыдущей моделью JSM-7800F, режиму Gentle Beam (GBSH). Кроме того, максимальный ток пучка в пушке с катодом Шоттки конструкции «In-lens» увеличен с 200 нА до 500 нА.

Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Разрешение до 0,7 нм (15 кВ)
Ускоряющее напряжение от 10 В до 30 кВ
Ток пучка от 1 пА до 500 нА
Опция - интегрированный ЭДС и др.

Новейший РЭМ с термополевым катодом JSM-7800F Prime позволяет получать изображение с самым высоким разрешением в мире для данного класса РЭМ, благодаря обновленному, по сравнению с предыдущей моделью JSM-7800F, режиму Gentle Beam (GBSH). Кроме того, максимальный ток пучка в пушке с катодом Шоттки конструкции «In-lens» увеличен с 200 нА до 500 нА.

Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Разрешение до 0,7 нм (15 кВ)
Ускоряющее напряжение от 10 В до 30 кВ
Ток пучка от 1 пА до 500 нА
Опция - интегрированный ЭДС и др.

Сканирующий растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки JEOL серии JSM-7610F

JSM-7610F – это растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Благодаря такой комбинации этот РЭМ одинаково хорош как для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами при малых ускоряющих напряжениях, так и для проведения экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.)

Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Автоэмиссионный "холодный" катод
Разрешение до 1,0 нм (15 кВ)
Ускоряющее напряжение от 100 В до 30 кВ
Ток пучка от 1 пА до 200 нА
Опция - интегрированный ЭДС и др.

JSM-7610F – это растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки, сочетающий в себе мощную электронную пушку и объективную линзу открытого типа (semi-in-lens). Благодаря такой комбинации этот РЭМ одинаково хорош как для работы с диэлектриками или чувствительными к воздействию электронного луча образцами при малых ускоряющих напряжениях, так и для проведения экспериментов, требующих высоких токов пучка (элементного анализа с использованием спектрометра с волновой дисперсией, получения картин дифракции отраженных электронов, катодолюминесцентных исследований и т.п.)

Увеличение от 25 до 1 000 000 крат
Автоэмиссионный "холодный" катод
Разрешение до 1,0 нм (15 кВ)
Ускоряющее напряжение от 100 В до 30 кВ
Ток пучка от 1 пА до 200 нА
Опция - интегрированный ЭДС и др.

Двухлучевая система JEOL серии JSM-4601F с полевой эмиссией

JIB-4601F – двулучевая система, представляющая собой растровый электронный микроскоп высокого разрешения с термополевым катодом, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.

Ионная пушка + расторовый электронный микроскоп с полевой эмиссией 
Ионная пушка с ускоряющими напряжением от 1 до 30 кВ
Электронно-оптическая колонна ускоряющим напряженм от 0,2 до 30 кВ 
Увеличение на РЭМ от 20 до 1 000 000 крат
Ускоряющее напряжение до 30 кВ
Разрешение до 1,2 нм в режиме высокого вакуума
Диаметр образца до 50 мм, высота до 20 мм

JIB-4601F – двулучевая система, представляющая собой растровый электронный микроскоп высокого разрешения с термополевым катодом, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.

Ионная пушка + расторовый электронный микроскоп с полевой эмиссией 
Ионная пушка с ускоряющими напряжением от 1 до 30 кВ
Электронно-оптическая колонна ускоряющим напряженм от 0,2 до 30 кВ 
Увеличение на РЭМ от 20 до 1 000 000 крат
Ускоряющее напряжение до 30 кВ
Разрешение до 1,2 нм в режиме высокого вакуума
Диаметр образца до 50 мм, высота до 20 мм