+7 (495) 909-89-53

Системы анализа поверхности (микрозонды и анализаторы) JEOL

Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от JEOL

Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F (HyperProbe) от JEOL

Это превосходный прибор для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов на субмикронном уровне. От модели JXA-8230 он отличается тем, что использует в качестве источника электронов катод Шоттки и обладает более высокой яркостью и намного меньшим диаметром электронного пучка. Это позволяет JXA-8530F проводить анализ с более высокой локальностью, чем зондам с вольфрамовыми и LaB6 катодами.

Оже-микрозонд JAMP-9510F от JEOL

На данный момент обладает самой высокой пространственной разрешающей способностью в мире. Его совершенная электронно-оптическая система позволяет достигать разрешения 3 нм в режиме изображения во вторичных электронах и 8 нм в режиме оже-анализа.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 от JEOL

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 от JEOL

Позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.

Новости

Все новости

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее