+7 (495) 909-89-53

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 от JEOL

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.

Особенности

Основные преимущества JPS-9030:

  • Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений;
  • Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца;
  • Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS);
  • Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум;
  • Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°C и выше;
  • Высоковакуумный транспортировочный контейнер предохраняет образцы от контакта с атмосферой при переноске.
  • Интуитивно понятный пользовательский интерфейс.

Характеристики

Рентгеновский источник
Анод Al/Mg
Ускоряющее напряжение 3-12 кВ
Ток катод-анод 2,5-50мА
Интенсивность пика Ag 3d5/2 (возбуждение Mg Ka, 300 Вт)
Разрешение (Ag 3d5/2, ПШПВ) 1,0 эВ
Максимальная мощность 500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Интенсивность пика более 1 000 000 имп./с
Анализатор энергии электронов
Тип анализатора полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты 100 мм
Детектор микроканальная пластина
Входные линзы комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям Constant Analyzer Energy (CAE)
Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения 5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии 0 – 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования 0,025 эВ
Энергетическое разрешение ΔE/E (CRR) от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов
Диапазон перемещений образца X: 50 мм; Y: 18 мм; Z: ±2 мм, T (наклон): от -10 до +10°
Максимальный размер образца 90 мм в диаметре; 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов 7×10-8 Па и ниже
Система отжига Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки Камера подготовки образцов

Газовый реактор
Вторично-ионный масс-спектрометр
Приставка для нагрева и охлаждения образцов
Высоковакуумный транспортировочный контейнер 
*возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее