+7 (495) 909-89-53

Настольная установка JEC-3000FC от JEOL

пробоподготовка для микроскопии

Настольная установка JEC-3000FC предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии.

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Настольная установка JEC-3000FC от JEOL

Также Вас может заинтересовать
Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater)

Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater) предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ). 

Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater) предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ). 

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP от JEOL

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP предназначена для получения полированных поперечных сечений образцов любых составов. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и стравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Особенность данного метода состоит в том, что, независимо от состава образца, получается идеально полированный срез без эффектов «намазывания» относительно мягких фаз на более твердые. Метод позволяет получать идеальные срезы таких сложных для полировки образцов, как бумага, фармпрепараты, сочетания «металл-резина» и пр.

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP предназначена для получения полированных поперечных сечений образцов любых составов. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и стравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Особенность данного метода состоит в том, что, независимо от состава образца, получается идеально полированный срез без эффектов «намазывания» относительно мягких фаз на более твердые. Метод позволяет получать идеальные срезы таких сложных для полировки образцов, как бумага, фармпрепараты, сочетания «металл-резина» и пр.

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420 разработана для быстрой и простой подготовки образцов как для проведения микроанализа, так и для исследования морфологии в режиме высокого разрешения в просвечивающей и растровой электронной микроскопии.

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420 разработана для быстрой и простой подготовки образцов как для проведения микроанализа, так и для исследования морфологии в режиме высокого разрешения в просвечивающей и растровой электронной микроскопии.

Новости

Все новости

HIMT анонсировал новую версию установки безмаскового совмещения и экспонирования MLA150 с пишущей головкой 0.6 мкм

Подробнее

В ЦНИИХМ запущен ИК-фурье спектроскопический эллипсометр SENDIRA

Подробнее

МИНАТЕХ стал дистрибутором швейцарской фирмы POWATEC GmbH

Подробнее

Лазерный литограф DWL 66XL+ со склада в Москве

Подробнее

Поставка двух центрифуг SPIN-1200T

Подробнее

В одном из Московских Университетов запущен спектроскопический эллипсометр SER 850 DUV

Подробнее

В ФГБНУ ТИСНУМ запущен 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп S neox

Подробнее

В АО "Протон" запущена первая в РФ установка MLA150

Подробнее

Центрифуга SPIN-1200T с нашего слада

Подробнее

Выставка - SEMIEXPO 2018

Подробнее

Плазменная очистка ATTO

Подробнее

В РХТУ запущен спектроскопический эллипсометр SENTECH SER 800

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее