+7 (495) 909-89-53

Рассеивающий сканирующй ближнепольный оптический микроскоп neaSNOM

NeaSNOM-How-it-works

neaspec GmbH (Германия) -  лидирующий мировой производитель инструментов рассеивающей сканирующей ближнепольный оптический микроскопии. Инженеры neaspec разработали микроскоп neaSNOM, ультрастабильный и простой в использовании оптический ближнепольный микроскоп, использующий новаторскую и запатентованную технологию оптической фильтрации фона (PH-обнаружение).

NeaSNOM объединяет лучшее из двух миров - атомно-силовую микроскопию наноразмерного разрешения (AFM) с аналитической мощностью видимого, инфракрасного и даже ТГц-изображения и спектроскопии. При пространственном разрешении всего 10 нм метод требует только стандартной подгттовки AFM-образца. Это открывает новую эру для современных наноаналитических приложений, таких как химическая наноидентификация (IR), наноплазмоническое картирование поля (VIS и ИК) или нано мэппинг свободных носителей заряда (THz).


Применение:
ИК техника и исследования
Нано-изображения  
Поверхностное отображение поляритонов
Биоматериалы
Химическая нано идентификация
Микроэлектроника и наноэлектроника 
Нанотехнологии
Картирование 
Исследования в ТГц области спектра
Картирование подвижности электронов
Плазмоника
Спектроскопия и наноспектроскопия
Более подробно...

Применяемые технологии:
атомно-силовая микроскопия наноразмерного разрешения (AFM)  
ближнеполная микроскопия
VIS, IR, Thz спектроскопия

Видео презентация

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее