+7 (495) 909-89-53

Системы анализа поверхности (микрозонды и анализаторы) JEOL

Электронно-зондовый микроанализатор 5-го поколения JXA-8230 от JEOL

Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.

Это превосходный инструмент для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов. Установка одновременно до 5 волновых спектрометров плюс один ЭДС, возможность дополнительно установить детектор катодолюминесценции или другие приставки, все это делает JXA-8230 непревзойденным инструментом для изучения локального состава образцов.

Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F (HyperProbe) от JEOL

Это превосходный прибор для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов на субмикронном уровне. От модели JXA-8230 он отличается тем, что использует в качестве источника электронов катод Шоттки и обладает более высокой яркостью и намного меньшим диаметром электронного пучка. Это позволяет JXA-8530F проводить анализ с более высокой локальностью, чем зондам с вольфрамовыми и LaB6 катодами.

Это превосходный прибор для неразрушающего, точного локального количественного анализа элементного состава различных материалов на субмикронном уровне. От модели JXA-8230 он отличается тем, что использует в качестве источника электронов катод Шоттки и обладает более высокой яркостью и намного меньшим диаметром электронного пучка. Это позволяет JXA-8530F проводить анализ с более высокой локальностью, чем зондам с вольфрамовыми и LaB6 катодами.

Оже-микрозонд JAMP-9510F от JEOL

На данный момент обладает самой высокой пространственной разрешающей способностью в мире. Его совершенная электронно-оптическая система позволяет достигать разрешения 3 нм в режиме изображения во вторичных электронах и 8 нм в режиме оже-анализа.

На данный момент обладает самой высокой пространственной разрешающей способностью в мире. Его совершенная электронно-оптическая система позволяет достигать разрешения 3 нм в режиме изображения во вторичных электронах и 8 нм в режиме оже-анализа.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030 от JEOL

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9200 от JEOL

Позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.

Позволяет проводить работу в двух основных режимах: фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда. Он создан по классической, прекрасно отработанной схеме, оснащен двумя рентгеновскими и одной ионной пушкой, моторизованным монохроматором рентгеновского излучения, полусферическим анализатором энергий электронов, большим моторизованным столиком образцов, системой регистрации и обработки спектров. Благодаря своей высокой надежности и функциональности, JPS-9200 нашел широкое применение в исследованиях фазового состава и свойств поверхности широкого класса образцов.

Анализ исследования поверхности исследуемого образца несомненно является очень важной задачей. На данный момент существует несколько надежных способов неразрушающего анализа поверхности. На пример: оже-электронная спектроскопия и фотоэлектронная спектроскопия. 

Оже-электронная спектроскопия (ЭОС) является общей аналитической методикой, используемой специально для изучения поверхностей, а также, в более общем плане, в области материаловедения. В основе данного спектроскопического метода лежит эффект Оже, который стал называться в честь открывшего его ученого. Данный эффект основан на анализе энергетических электронов, испускаемых возбужденным атомом, после обстрела поверхности образца пучком электронов. 

Фотоэмиссионная спектроскопия (ФЭС), также известная как фотоэлектронная спектроскопия, относится к методу измерению энергии электронов, выделяемых из твердых тел, газов или жидкостей за счет фотоэлектрического эффекта, и предназначена для определения энергий связи электронов в веществе. Термин относится к различным методам, в зависимости от того, обеспечивается ли энергия ионизации рентгеновским фотоном, фотоном EUV или фотоном ультрафиолета. Однако, несмотря на падающий пучок фотонов, вся фотоэлектронная спектроскопия вращается вокруг общей темы поверхностного анализа, измеряя «выброшенные» из вещества электроны. 

На нашем сайте вы можете купить различные системы анализа поверхности от японской фирмы JEOL: оже-микрозонды JAMP-9510F; рентгеновские фотоэлектронные спектрометры JPS-9030 и JPS-9200; а также электронно-зондовые микроанализаторы JXA-8230 и JXA-8530F.

Новости

Все новости

Поставка двух центрифуг SPIN-1200T

Подробнее

В одном из Московских Университетов запущен спектроскопический эллипсометр SER 850 DUV

Подробнее

В ФГБНУ ТИСНУМ запущен 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп S neox

Подробнее

В АО "Протон" запущена первая в РФ установка MLA150

Подробнее

Центрифуга SPIN-1200T с нашего слада

Подробнее

Инспекционный микроскоп Leica DM2700M с нашего склада в Москве по антикризисной цене!

Подробнее

Выставка - SEMIEXPO 2018

Подробнее

Плазменная очистка ATTO

Подробнее

В РХТУ запущен спектроскопический эллипсометр SENTECH SER 800

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее