+7 (495) 909-89-53

S lynx - компактный 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

S lynx - system dimensions 2S lynx - system dimensions 1S lynx - complete systemWhatsthat2WhatsthatWafer (semiconductors) - VSI 10XWafer (semiconductors) - ThicknessWafer (semiconductors) - Thickness S2Wafer (semiconductors) - Thickness S1Solar cell (Energy)Screw (micromanufacturing)Quantum spots Nanowires - Confocal 150XPCB (micro electronics) - VSI 10X (1)Microfluids (medical) - VSI 10XLaser mark M (micro manufacturing) - Confocal 20XLaser mark (micro manufacturing) - VSI 50XFixture (micro electronics) - Confocal 20XFiber connector 2 (optics) - VSI 50XFiber connector (optics) - Confocal 50XEngine (watch industry) - FV 10X (2)Engine (watch industry) - FV 10X (1)Connector (micro electronics) - VSI 10XBone (paleontology) - Confocal 20X (1)

S lynx производства SENSOFAR (Испания)  - компактный новый 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп. S lynx новое слово в оптической 3D профилометрии. S lynx объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. 

Применение:
Машиностроение
Материаловедение  
Энергетика
Криминалистика
Контроль лазерной гравировки
Микроэлектроника 
Микромеханика
Оптика
Полупроводники
Потребительская электроника
Фотовольтика
Дисплеи

Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, VSI)
Изменение фокуса (Focus Variation)

Особенности

  • Максимальное разрешение по оси Z - 2 нм.
  • S Lynx разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества
  • Основанный на технологии микро-дисплея, S lynx позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S lynx является отличным аналитическим инструментом.
  • S neox использует CCD сенсор высокого разрешения 1360 х 1024 пиксела в комбинации с дисплеем высокого разрешения 2560 х 1440 пикселов. Прибор имеет LED источник света внутри оптического ядра: белый (550 нм).
  • Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
  • S lynx полностью готовый к работе прибор. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
  • Столик для S lynx: ручной 150x100 мм.
  • Регулировка по Z: 40 мм моторизованная, 150 мм ручная регулировка колонны (опция)
  • Мощное программное обеспечение SensoSCAN 6.0 
Презентаця S lynx в PDFБрошюра S lynx в PDF

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

S lynx - компактный 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее