+7 (495) 909-89-53

S neox - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

S neox - system dimensions 1S neox - Techniques (vertical resolution vs range)surfacepiramidpiramid distributionpaper roughnesspaper roughness of layerspaper holestribologyroughnesshard testcorrosionVIA AND SR OPENCU TRACECU ROUGHNESSbgaroughtness3roughtness2roughtnesspiramidsgeneratorarray3d piramids2d piramidsSi membranesPressure sensorgyroscopeaccelerometerstep of rgb filtersphoto spacersdefectsMicromotorThin filmThin film 2Thickness mappingSolar Cell 2DSiemens StarSemiconductor Solder Balls 2DS neox - Roughness ISO 3DS neox - Random noiseS neox - Metal 2DS neox - LEDs 3DS neox - LCD 3DS neox - Hole Defect Detail 2DS neox - Circuit 2DS neox - Bullet 3D

S neox производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп. S neox новое слово в оптической 3D профилометрии. S neox объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей.

Применение:
Машиностроение
Материаловедение  
Энергетика
Криминалистика
Контроль лазерной гравировки
Микроэлектроника 
Микромеханика
Оптика
Полупроводники
Потребительская электроника
Фотовольтика
Дисплеи

Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: PSI, ePSI, VSI)
Изменение фокуса (Focus Variation)

Особенности

  • Максимальное разрешение по оси Z  - 0,1 нм!
  • S Neox разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества
  • Основанный на технологии микро-дисплея, S neox позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S neox является отличным аналитическим инструментом.
  • Опционально S neox может быть оснащен спектроскопическим рефлектометром для обеспечения возможности измерения тонких пленок. Возможно измерение до 10-ти слоев пленок в диапазоне от 50 до нескольких микрон. (измерение SiO2, Фоторезиста)
  • S neox имеет дискретность измерения от 0,1 нм до нескольких нм, оснащен двойным вертикальным сканером, который работает в комбинации с прецизионным подвижным столиком и пьезо-сканером. Это позволяет добиться наивысшей точности и повторяемости измерений среди приборов, представленных сегодня на рынке.
  • S neox использует CCD сенсор высокого разрешения 1360 х 1024 пиксела в комбинации с дисплеем высокого разрешения 2560 х 1440 пикселов. Прибор имеет четыре LED источника света внутри оптического ядра: красный (630 нм), зеленый (530 нм), голубой (460 нм) и белый (550 нм), которые улучшают латеральное разрешение и длину когерентности оптического излучения.
  • Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
  • S neoх полностью готовый к работе прибор. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве с измеряемыми деталями размером до 600 х 600 мм2.
  • Столики для S neox: 100x150 ручной, Моторизованные 114х75 мм, 150х150 мм, 250х200, 300х300 мм, 600х600 мм
  • Регулировка по Z - 40 мм моторизованная, 200 мкм с пьезосканером, 150 мм ручная регулировка колонны (опционально)
  • Мощное программное обеспечение SensoSCAN 6.0 
Брошюра S neox в на русском языке в PDF

Видео презентация

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

S neox - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее