+7 (495) 909-89-53

Пробоподготовка для микроскопии JEOL

Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater)

Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater) предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ). 

Напылительная установка магнетронного типа Smart Coater (Neo Coater) предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ). 

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420 разработана для быстрой и простой подготовки образцов как для проведения микроанализа, так и для исследования морфологии в режиме высокого разрешения в просвечивающей и растровой электронной микроскопии.

Универсальная вакуумная напылительная установка JEE-420 разработана для быстрой и простой подготовки образцов как для проведения микроанализа, так и для исследования морфологии в режиме высокого разрешения в просвечивающей и растровой электронной микроскопии.

Настольная установка JEC-3000FC от JEOL

Настольная установка JEC-3000FC предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии.

Настольная установка JEC-3000FC предназначена для напыления тонкого слоя металла на непроводящий образец и служит устройством пробоподготовки для растровой электронной микроскопии.

Система Ion Slicer EM-09100IS от JEOL

Система Ion Slicer EM-09100IS предназначена для подготовки образцов к исследованию, в основном, в просвечивающих электронных микроскопах. Используемый метод ионного утонения позволяет получить тонкий, прозрачный для пучка электронов, образец, без механической шлифовки, которая может вносить искажения в структуру объекта исследования. Также площадь прозрачного образца, получаемого с помощью Ion Slicer, гораздо больше, чем при применении традиционных методов.

Система Ion Slicer EM-09100IS предназначена для подготовки образцов к исследованию, в основном, в просвечивающих электронных микроскопах. Используемый метод ионного утонения позволяет получить тонкий, прозрачный для пучка электронов, образец, без механической шлифовки, которая может вносить искажения в структуру объекта исследования. Также площадь прозрачного образца, получаемого с помощью Ion Slicer, гораздо больше, чем при применении традиционных методов.

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP от JEOL

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP предназначена для получения полированных поперечных сечений образцов любых составов. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и стравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Особенность данного метода состоит в том, что, независимо от состава образца, получается идеально полированный срез без эффектов «намазывания» относительно мягких фаз на более твердые. Метод позволяет получать идеальные срезы таких сложных для полировки образцов, как бумага, фармпрепараты, сочетания «металл-резина» и пр.

Система Cross-Section Polisher (CP) IB-09010CP предназначена для получения полированных поперечных сечений образцов любых составов. Часть образца закрывается специальной защитной пластиной, защищающей ее от воздействия пучка ионов аргона. Пучок падает перпендикулярно поверхности пластины и стравливает часть образца, незащищенную пластиной. Этот процесс очень напоминает резку бумаги «под линейку». Особенность данного метода состоит в том, что, независимо от состава образца, получается идеально полированный срез без эффектов «намазывания» относительно мягких фаз на более твердые. Метод позволяет получать идеальные срезы таких сложных для полировки образцов, как бумага, фармпрепараты, сочетания «металл-резина» и пр.

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее