+7 (495) 909-89-53

Система Ion Slicer EM-09100IS от JEOL

Система Ion Slicer EM-09100IS предназначена для подготовки образцов к исследованию, в основном, в просвечивающих электронных микроскопах. Используемый метод ионного утонения позволяет получить тонкий, прозрачный для пучка электронов, образец, без механической шлифовки, которая может вносить искажения в структуру объекта исследования. Также площадь прозрачного образца, получаемого с помощью Ion Slicer, гораздо больше, чем при применении традиционных методов. 

Особенности

Система Ion Slicer EM-09100IS предназначена для подготовки образцов к исследованиям в растровых и просвечивающих электронных микроскопах путем ионного утонения, без применения растворителя или химических реактивов. 

Отличительной особенностью данного прибора является то, что он не требует приготовления диска, утоненного в центре. Предварительная пробоподготовка для Ion Slicer заключается лишь в изготовлении параллелепипеда размерами 2.8мм х 0.5мм х 0.1мм, который затем закрывается с тонкого широкого конца (рис. 2) специальной защитной лентой и утоняется пучком ионов аргона. Энергия пучка не превышает 8 кВ, а угол падения можно варьировать от 0 до 6 по отношению к наибольшей грани образца. Это позволяет минимизировать радиационные повреждения и, тем самым, сохранить исходные структуру и фазовый состав образца, а после этого изучить их методами электронной микроскопии. 

Процедура пробоподготовки включает в себя следующие шаги: 

1) Отрезка образца.

От исследуемого объекта должен быть отрезан образец длинной 2.8 мм и шириной 0.8 мм. Для этой процедуры оптимально использовать прецизионный отрезной станок Isomet изображенный с алмазным отрезным диском. 

2) Утонение образца.

На следующем этапе требуется утонение образца до толщины 0.1 мм. Handy Lap (рис. 4), прекрасно подходит для этой цели. Для полировки можно использовать маленькое двухстороннее лезвие. Показателем того, что образец утоньшился до 0.1 мм и полировку можно останавливать, будет исчезновение окраски на лезвии.

3) Ионное утонение.

После того, как образец приведен к размерам 2.8 мм длины, 0.8 ширины и 0.1 толщины, он помещается в держатель и запускается процесс травления. Длительность травления, в среднем, составляет около двух часов и зависит от условий, в которых проводится обработка.

Процесс утонения контролируется по изображению, получаемому с CCD-камеры, и управляется при помощи персонального компьютера.

Ion Slicer крайне эффективен для обработки мягких материалов, неоднородных твердых растворов, минералов, композитов, керамик, пористых структур и т.п.


Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Система Ion Slicer EM-09100IS от JEOL

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее