+7 (495) 909-89-53

Стилусные контактные профилометры KLA-Tencor

Стилусный профилометр Alpha-Step D-500

Стилусный профилометр Alpha-Step® D-500 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках, сшивания профиля, в нем реализовано и еще много других полезных функций.

Рабочий столик: 140 мм
Длина сканирования: до 30 мм и до 80 мм при сшивании
Вертикальный диапазон измерений: до 1200 мкм
Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 15 мг
Повторяемость измерения 5 Å на ступеньке 1 мкм
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Стилусный профилометр Alpha-Step® D-500 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках, сшивания профиля, в нем реализовано и еще много других полезных функций.

Рабочий столик: 140 мм
Длина сканирования: до 30 мм и до 80 мм при сшивании
Вертикальный диапазон измерений: до 1200 мкм
Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 15 мг
Повторяемость измерения 5 Å на ступеньке 1 мкм
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Стилусный профилометр Alpha-Step D-600

Стилусный профилометр Alpha-Step® D-600 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D и 3D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках, сшивания профиля, в нем реализовано и еще много других полезных функций.

Рабочий столик: 200 мм
Перемещение по XY: 150x178 мм
Длина сканирования: до 55 мм и до 200 мм при сшивании
Вертикальный диапазон измерений: до 1200 мкм
Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 15 мг
Повторяемость измерения 5 Å на ступеньке 1 мкм
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Стилусный профилометр Alpha-Step® D-600 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D и 3D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках, сшивания профиля, в нем реализовано и еще много других полезных функций.

Рабочий столик: 200 мм
Перемещение по XY: 150x178 мм
Длина сканирования: до 55 мм и до 200 мм при сшивании
Вертикальный диапазон измерений: до 1200 мкм
Контролируемое усилие воздействия в диапазоне 0,03 мг – 15 мг
Повторяемость измерения 5 Å на ступеньке 1 мкм
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Стилусный профилометр P-7

Стилусный профилометр P-7 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D и 3D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках для промышленных приложений с высоконадежным воспроизводством измерений и исследований.

Рабочий столик: 150 мм
Длина сканирования: до 150 мм без сшивания
Вертикальный диапазон измерений: до 1000 мкм
Повторяемость измерения 4 Å на ступеньке 1 мкм (1σ)
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Стилусный профилометр P-7 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D и 3D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках для промышленных приложений с высоконадежным воспроизводством измерений и исследований.

Рабочий столик: 150 мм
Длина сканирования: до 150 мм без сшивания
Вертикальный диапазон измерений: до 1000 мкм
Повторяемость измерения 4 Å на ступеньке 1 мкм (1σ)
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Стилусный профилометр P-17

Продвинутый стилусный профилометр P-17 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D и 3D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках в промышленных цыклах производства с высоконадежным воспроизводством измерений и исследований.

Рабочий столик: 200 мм (до 300 мм)
Длина сканирования: до 200 мм без сшивания
Вертикальный диапазон измерений: до 1000 мкм
Повторяемость измерения 4 Å на ступеньке 1 мкм (1σ)
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Продвинутый стилусный профилометр P-17 производства KLA-Tencor (США) предназначен для 2D и 3D профилирования с высоким разрешением, 2D измерений напряжения в пленках в промышленных цыклах производства с высоконадежным воспроизводством измерений и исследований.

Рабочий столик: 200 мм (до 300 мм)
Длина сканирования: до 200 мм без сшивания
Вертикальный диапазон измерений: до 1000 мкм
Повторяемость измерения 4 Å на ступеньке 1 мкм (1σ)
Программное обеспечение совместимо с ОС Windows 

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее