ES01/EGS01 - серия универсильных спектроскопических эллипсометров производства Beijing Ellitop Scientific Co.Ltd (Китай) с диапазоном длин волн: DUV-VIS-NIR (ГУФ-ВИД-ИК) специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Измерение нанопленок.
Спектральный диапазон: от 193 до 2500 нм (в зависимости от модели)
Самоколлимационный телескоп (Self-collimation Telescope - SCT) и микроскоп для точного выравнивания образцов (по высоте и двумерному наклону). Электронное выравнивание изображений на основе видео
Программный пакет на английском языке
Толщина пленок: от 1 Å до 200 мкм (зависит от пленки и оптиеских параметров)
Большое количество опций
ES01/EGS01 - серия универсильных спектроскопических эллипсометров производства Beijing Ellitop Scientific Co.Ltd (Китай) с диапазоном длин волн: DUV-VIS-NIR (ГУФ-ВИД-ИК) специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Измерение нанопленок.
Спектральный диапазон: от 193 до 2500 нм (в зависимости от модели)
Самоколлимационный телескоп (Self-collimation Telescope - SCT) и микроскоп для точного выравнивания образцов (по высоте и двумерному наклону). Электронное выравнивание изображений на основе видео
Программный пакет на английском языке
Толщина пленок: от 1 Å до 200 мкм (зависит от пленки и оптиеских параметров)
Большое количество опций
Спектроскопические (спетральные) эллипсометры производства Beijing Ellitop Scientific Co.Ltd (Китай) для исследований и производства. В зависимости от модели, работающие в диапазоне от DUV-VIS-NIR (193-2500 нм). Приборы с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработаны для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик однослойных и многослойных пленок и пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения и др.) на различных типах поверхностей.
ООО "Минатех"— Микро и нано технологии
Статьи
© Все права защищены
Россия, Москва, ул. Ткацкая, д.5с1.
тел./факс: +7 (495) 909-89-53 / +7 (495) 909-89-54
моб.тел.: +7 (926) 134-69-15
e-mail: info@minateh.ru
