+7 (495) 909-89-53

G20 - напылительная установка магнетронного типа для напыления токопроводящих слоев для SEM

напыление токопроводящих слоев

G20 - напылительная установка магнетронного типа для напыления токопроводящих слое для электронной микроскопии (SEM) от GSEM Co. Ltd. (Корея)  

Применение: 
Нанесение токопроводящего слоя для исследований в электронной микроскопии (SEM) 

Описание  G20

  • Управление с PLC - 7 inch Touch Display
  • Просто управление
  • До 10 рецептов
  • Загрзка до 7 образцов (Φ14 мм)
  • Вакуумный насос в комплекте

Подробнее по ссылке.

Поставка доступна в течение недели!

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

G20 - напылительная установка магнетронного типа для напыления токопроводящих слоев для SEM

Также Вас может заинтересовать
Установка плазменной очистки при атмосферном давлении

Установка плазменной очистки и активации поверхности при атмосферном давлении (Китай). Установка готова к отгрузке нашим заказчикам в самые кратчайшие сроки. 

Применение: очистка, удаление органики с поверхности, активация

Установка плазменной очистки и активации поверхности при атмосферном давлении (Китай). Установка готова к отгрузке нашим заказчикам в самые кратчайшие сроки. 

Применение: очистка, удаление органики с поверхности, активация

Четырехзондовая полуавтоматическая установка измерения удельного сопротивления слоев, Eplec-RC

Четырехзондовая полуавтоматическая установка измерения удельного сопротивления слоев, Eplec-RC

Eplec-RC - установки четырехзондового измерения (4-point probe) - измерение удельного и поверхностного сопротивления четырехзондовым методом на полупроводниковых пластинах Si, GaAs, InP, Ge, SiC, Сапфира и др. производства PLSINTEC CORPORATION (Китай). 

Измерение (картирование) на пластинах диаметром от 52 мм (2") до 200 мм (8") и толщиной до 4 мм.  

 

 

Четырехзондовая полуавтоматическая установка измерения удельного сопротивления слоев, Eplec-RC

Eplec-RC - установки четырехзондового измерения (4-point probe) - измерение удельного и поверхностного сопротивления четырехзондовым методом на полупроводниковых пластинах Si, GaAs, InP, Ge, SiC, Сапфира и др. производства PLSINTEC CORPORATION (Китай). 

Измерение (картирование) на пластинах диаметром от 52 мм (2") до 200 мм (8") и толщиной до 4 мм.  

 

 

Напольные антивибрационные платформы DAEIL SYSTEMS (Корея)

Напольные антивибрационные платформы DAEIL SYSTEMS (Корея) с активной виброизоляцией серии DVIA-ML1000 для SEM и тяжеловысных приборов.

Применение: виброизоляция электронных микроскопов, FIB, профилометров, ОЖЭ и других тяжеловысных приборов.
Нагрузка до 1500кг.

Напольные антивибрационные платформы DAEIL SYSTEMS (Корея) с активной виброизоляцией серии DVIA-ML1000 для SEM и тяжеловысных приборов.

Применение: виброизоляция электронных микроскопов, FIB, профилометров, ОЖЭ и других тяжеловысных приборов.
Нагрузка до 1500кг.