CUBE II - новейший компактный растровый электронный микроскоп из Кореи. Прибор может использоваться как для учебных целей так и для решения различных рутинных задач и научных исследований.
Увеличение от 10x до 100 000x
Напряжение от 1 до 30 кВ
Разрешение до 5 нм в режиме высокого вакуума (SE image)
Разрешение до 6 нм в режиме высокого вакуума (BSE image)
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 53 мм
Опции:
-Лабораторная установка вакуумного напыления
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
- Волнодисперсионный спектрометр (DLC)
- EBSD
- Катодолюминесценция (CL)
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению
CUBE II - новейший компактный растровый электронный микроскоп из Кореи. Прибор может использоваться как для учебных целей так и для решения различных рутинных задач и научных исследований.
Увеличение от 10x до 100 000x
Напряжение от 1 до 30 кВ
Разрешение до 5 нм в режиме высокого вакуума (SE image)
Разрешение до 6 нм в режиме высокого вакуума (BSE image)
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 53 мм
Опции:
-Лабораторная установка вакуумного напыления
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
- Волнодисперсионный спектрометр (DLC)
- EBSD
- Катодолюминесценция (CL)
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению
Genesis - новейший растровый электронный микроскоп из Кореи. Прибор может использоваться как для учебных целей так и для решения различных рутинных задач и научных исследований.
Увеличение от 10x до 300 000x
Напряжение от 200 В до 30 кВ
Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума (SE image)
Разрешение до 5 нм в режиме высокого вакуума (BSE image)
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 96 мм, высота до 50 мм
Опции:
-Лабораторная установка вакуумного напыления
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
- Волнодисперсионный спектрометр (WDS)
- EBSD (Electron Back Scattered Diffraction)
- Катодолюминесценция (CL)
- LaB6 / CeB6 установка опционально
- 3D imaging
- Рамановская спектроскопия
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению
Genesis - новейший растровый электронный микроскоп из Кореи. Прибор может использоваться как для учебных целей так и для решения различных рутинных задач и научных исследований.
Увеличение от 10x до 300 000x
Напряжение от 200 В до 30 кВ
Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума (SE image)
Разрешение до 5 нм в режиме высокого вакуума (BSE image)
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 96 мм, высота до 50 мм
Опции:
-Лабораторная установка вакуумного напыления
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
- Волнодисперсионный спектрометр (WDS)
- EBSD (Electron Back Scattered Diffraction)
- Катодолюминесценция (CL)
- LaB6 / CeB6 установка опционально
- 3D imaging
- Рамановская спектроскопия
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению
Veritas - новейший растровый электронный микроскоп с большой камерой образоцв из Кореи. Прибор может использоваться как для учебных целей так и для решения различных рутинных задач и научных исследований.
Увеличение от 10x до 300 000x
Напряжение от 200 В до 30 кВ
Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума (SE image)
Разрешение до 5 нм в режиме высокого вакуума (BSE image)
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 210 мм, высота до 65 мм
Столик с моторизоцией по 5-ти осям в базовом комплекте
Опции:
-Лабораторная установка вакуумного напыления
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
- Волнодисперсионный спектрометр (WDS)
- EBSD (Electron Back Scattered Diffraction)
- Катодолюминесценция (CL)
- LaB6 / CeB6 установка опционально
- 3D imaging
- Рамановская спектроскопия
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению
Veritas - новейший растровый электронный микроскоп с большой камерой образоцв из Кореи. Прибор может использоваться как для учебных целей так и для решения различных рутинных задач и научных исследований.
Увеличение от 10x до 300 000x
Напряжение от 200 В до 30 кВ
Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума (SE image)
Разрешение до 5 нм в режиме высокого вакуума (BSE image)
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 210 мм, высота до 65 мм
Столик с моторизоцией по 5-ти осям в базовом комплекте
Опции:
-Лабораторная установка вакуумного напыления
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
- Волнодисперсионный спектрометр (WDS)
- EBSD (Electron Back Scattered Diffraction)
- Катодолюминесценция (CL)
- LaB6 / CeB6 установка опционально
- 3D imaging
- Рамановская спектроскопия
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению
G20 - напылительная установка магнетронного типа Ion sputter coater с PLC контролем предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ) от GSEM CO., LTD (Корея).
1. Управление с PLC - 7 inch Touch Display
2. Просто управление
3. до 10 рецептов
4. Загрзка до 7 образцов (Φ14 мм)
G20 - напылительная установка магнетронного типа Ion sputter coater с PLC контролем предназначена для напыления тонкой металлической пленки на непроводящие образцы перед их исследованием в растровом электронном микроскопе (РЭМ) от GSEM CO., LTD (Корея).
1. Управление с PLC - 7 inch Touch Display
2. Просто управление
3. до 10 рецептов
4. Загрзка до 7 образцов (Φ14 мм)
Сканирующий, или растровый электронный микроскоп – СЭМ, РЭМ (Scanning electron microscope - SEM) представляет собой тип электронного микроскопа, принцип работы которого заключается в создании изображений, путем сканирования исследуемой поверхности направленным пучком электронов. Электроны взаимодействуют с атомами в образце, создавая различные сигналы, которые содержат информацию о рельефе и составе поверхности образца. Электронный луч сканируется в шаблоне растрового сканирования, а положение луча объединяется с обнаруженным сигналом для создания изображения. Сканирующий (растровый) электронный микроскоп может получать изображения с разрешением выше 1 нм. Наиболее распространенным СЭМ-режимом является обнаружение вторичных электронов, испускаемых атомами, возбуждаемыми электронным пучком. Количество вторичных электронов, которое может быть обнаружено, зависит, помимо прочего, от топографии образца. Сканируя образец и собирая вторичные электроны, которые испускаются с помощью специального детектора, создается изображение, отображающее топографию поверхности.
На нашем сайте вы можете купить сканирующие электронные микроскопы корейской фирмы Emcrafts – термоэмиссионные растровые микроскопы с термической эмиссией. Для того что бы узнать про каждый тип подробнее, нажмите кнопку «подробнее» на интересующем вас товаре.