Прямые инспекционные микроскопы Leica (Германия)

Прямой инспекционный УФ микроскоп проходящего и падающего света Leica DM800 / DM12000

Прямой ультрафиолетовый (UV) микроскоп Leica DM8000 / DM12000 для контроля полупроводниковых пластин в микроэлектронике.

Микроскоп DM8000 позволяет работать на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря освещению УФ 365нм и косому освещению. Пользователь может различить видимые структуры в 160 нм.

Максимальный размер образца: 200 х 200 мм / 300 x 300 мм
Наблюдение образцов можно проводить в отраженном свете.
УФ освещение (365 нм)
Косое освещение
Инфракрасное освещение (ИК) для контроля девектов в пластине
Методы контрастирования: светлое, темное поле, поляризация, ДИК, ультрафиолетовое освещение UV и OUV, наклонное освещение, макро режим, ИК

Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.

Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 4/ Leica DM 6

Прямой инспекционный исследовательский микроскоп с моторизованными компонентами Leica DM 4/ Leica DM6.
Комплектации M (металлографический или инспекционный) и P (поляризационный).

Увеличение 12,5 до 3000 крат
Максимальный размер образца и ход столика: 150 х 150 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.

Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 2700M

Микроскоп Leica DM2700 предназначен для рутинной лабораторной работы в области металловедения, микроэлектроники, петрографии в проходящем и отраженном свете.

Прямой исследовательский микроскоп Leica DM 2700. Комплектации M (металлографический) и P (поляризационный)

Во всех базовых версиях также присутствует метод наклонного освещения, позволяющий исследовать топографию поверсхностей.

Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.

Наличие поляризационного комплекта для задач минералогии.

Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 100 х 100 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.

Инспекционный микроскоп Leica DM3 XL для микроэлектроники

Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин. 

Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 150 х 150 мм
Спефиальные держатели полупроводниковых пластин и фотошаблонов
Максимальное поле зрения 35.7 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.