Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 2700M
Микроскоп Leica DM2700 предназначен для рутинной лабораторной работы в области металловедения, микроэлектроники, петрографии в проходящем и отраженном свете.
Прямой исследовательский микроскоп Leica DM 2700. Комплектации M (металлографический) и P (поляризационный)
Во всех базовых версиях также присутствует метод наклонного освещения, позволяющий исследовать топографию поверсхностей.
Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.
Наличие поляризационного комплекта для задач минералогии.
Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 100 х 100 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, косое освещение
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
ДИК
Поляризация
Макро режим
Косое освещение
Применение:
Антенны, Телекоммуникации и электроника, Полупроводниковые пластины, Фотошаблоны, Оптические телескопические системы, Мобильные телефоны, бритвы и часы, материаловеение.
Возможность работы в проходящем и отраженном свете
Моторизированная или ручная система фокусировки
Увеличение от 7х до 3000х
Набор полуапохроматических и апохроматических объективов (0.7х, 2,5x, 5x, 10х, 20х, 50х, 100х, 150x)
Инспекционный ручной стол с перемещением до 100х100 мм.
Держатели пластин с возможность установки вакуума и держателя масок
Программное обеспечение позволяет проводить геометрические измерения, создавать панорамные изображение с повышенной глубиной фокуса и просматривать полученные изображения. В базовом наборе рекомендуем приобретать модуль для линейных измерений, модуль для автофокуса и модуль для получения панорамных изображений по XY.
Axalit - Программное обеспечение для анализа изображений
Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.
Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
| Корпус | Турель режимов контрастирования, турель объективов, полевая и апертурные диафрагмы, освещения, предметный столик и привод фокусировки. Встроенный в штатив цветной сенсорный дисплей позволяет легко и быстро контролировать текущие настройки и управлять микроскопом. |
| Фокусировка | Ход фокусировки по Z - 25 мм |
| Револьверы объективов |
Фиксированный шестиместный универсальный револьвер объективов; имеется слот для ДИК |
| Освещение | Светодиодный белый, галогенный, флуоресцентный |
| Методы контрастирования | - светлое поле - темное поле - поляризация - дифференциально-интерференционный контраст - Наклонное освещение |
| Увеличение | Увеличение: от 7 крат до 3000 крат |
| Предметный столик | 100 х 100 ммми др по запросу |
| Виброизоляция | платформы Accurion Halcyonics_i4 |
| Опции и компоненты моторизации | - турель методов контрастирования, - привод фокусировки, - предметный столик. |
| Энергопитания | 220 В, 1 фаза. |
Прямой инспекционный УФ микроскоп проходящего и падающего света Leica DM800 / DM12000
Прямой ультрафиолетовый (UV) микроскоп Leica DM8000 / DM12000 для контроля полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Микроскоп DM8000 позволяет работать на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря освещению УФ 365нм и косому освещению. Пользователь может различить видимые структуры в 160 нм.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм / 300 x 300 мм
Наблюдение образцов можно проводить в отраженном свете.
УФ освещение (365 нм)
Косое освещение
Инфракрасное освещение (ИК) для контроля девектов в пластине
Методы контрастирования: светлое, темное поле, поляризация, ДИК, ультрафиолетовое освещение UV и OUV, наклонное освещение, макро режим, ИК
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Прямой инспекционный УФ микроскоп проходящего и падающего света Leica DM800 / DM12000
Прямой ультрафиолетовый (UV) микроскоп Leica DM8000 / DM12000 для контроля полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Микроскоп DM8000 позволяет работать на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря освещению УФ 365нм и косому освещению. Пользователь может различить видимые структуры в 160 нм.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм / 300 x 300 мм
Наблюдение образцов можно проводить в отраженном свете.
УФ освещение (365 нм)
Косое освещение
Инфракрасное освещение (ИК) для контроля девектов в пластине
Методы контрастирования: светлое, темное поле, поляризация, ДИК, ультрафиолетовое освещение UV и OUV, наклонное освещение, макро режим, ИК
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Инспекционный микроскоп Leica DM3 XL для микроэлектроники
Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин.
Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 150 х 150 мм
Спефиальные держатели полупроводниковых пластин и фотошаблонов
Максимальное поле зрения 35.7 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Инспекционный микроскоп Leica DM3 XL для микроэлектроники
Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин.
Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 150 х 150 мм
Спефиальные держатели полупроводниковых пластин и фотошаблонов
Максимальное поле зрения 35.7 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 4/ Leica DM 6
Прямой инспекционный исследовательский микроскоп с моторизованными компонентами Leica DM 4/ Leica DM6.
Комплектации M (металлографический или инспекционный) и P (поляризационный).
Увеличение 12,5 до 3000 крат
Максимальный размер образца и ход столика: 150 х 150 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 4/ Leica DM 6
Прямой инспекционный исследовательский микроскоп с моторизованными компонентами Leica DM 4/ Leica DM6.
Комплектации M (металлографический или инспекционный) и P (поляризационный).
Увеличение 12,5 до 3000 крат
Максимальный размер образца и ход столика: 150 х 150 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
ООО "Минатех"— Микро и нано технологии
Статьи
© Все права защищены
Россия, Москва, ул. Ткацкая, д.5с1.
тел./факс: +7 (495) 909-89-53 / +7 (495) 909-89-54
моб.тел.: +7 (926) 134-69-15
e-mail: info@minateh.ru
