Инспекционный микроскоп Leica DM3XL для микроэлектроники
Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин.
Микроскоп Leica DM3 XL предназначен для контроля качества в области микроэлектроники, в том числе кремниевых пластин. Простой и надежный инструмент для быстрого инспектирования полупроводниковых образцов. Максимальное поле зрения 35.7 мм. Большой ход механического столика обеспечивает размещение образцов диаметром до 150 мм. Дополнительный режим косого освещения позволяет более детально изучить топографию вашего образца. Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.
Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 150 х 150 мм
Спефиальные держатели полупроводниковых пластин и фотошаблонов
Максимальное поле зрения 35.7 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
ДИК
Поляризация
Макро режим
Косое освещение
Применение:
Антенны, Телекоммуникации и электроника, Полупроводниковые пластины, Фотошаблоны, Оптические телескопические системы, Мобильные телефоны, бритвы и часы, материаловеение.
Возможность работы в проходящем и отраженном свете
Моторизированная или ручная система фокусировки
Увеличение от 7х до 3000х
Набор полуапохроматических и апохроматических объективов (0.7х, 2,5x, 5x, 10х, 20х, 50х, 100х, 150x)
Инспекционный ручной стол с перемещением до 150х150 мм.
Держатели пластин с возможность установки вакуума и держателя масок
Программное обеспечение позволяет проводить геометрические измерения, создавать панорамные изображение с повышенной глубиной фокуса и просматривать полученные изображения. В базовом наборе рекомендуем приобретать модуль для линейных измерений, модуль для автофокуса и модуль для получения панорамных изображений по XY.
Axalit - Программное обеспечение для анализа изображений
Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.
Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
| Корпус | Турель режимов контрастирования, турель объективов, полевая и апертурные диафрагмы, освещения, предметный столик и привод фокусировки. Встроенный в штатив цветной сенсорный дисплей позволяет легко и быстро контролировать текущие настройки и управлять микроскопом. |
| Фокусировка | Ход фокусировки по Z - 25 мм |
| Револьверы объективов |
Фиксированный шестиместный универсальный револьвер объективов; имеется слот для ДИК |
| Освещение | Светодиодный белый |
| Методы контрастирования | - светлое поле - темное поле - поляризация - дифференциально-интерференционный контраст - Наклонное освещение |
| Увеличение | Увеличение: от 7 крат до 3000 крат |
| Предметный столик | 150 х 150 мм и др по запросу |
| Виброизоляция | платформы Accurion Halcyonics_i4 |
| Опции и компоненты моторизации | - турель методов контрастирования, - привод фокусировки, - предметный столик. |
| Энергопитания | 220 В, 1 фаза. |
Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 4/ Leica DM 6
Прямой инспекционный исследовательский микроскоп с моторизованными компонентами Leica DM 4/ Leica DM6.
Комплектации M (металлографический или инспекционный) и P (поляризационный).
Увеличение 12,5 до 3000 крат
Максимальный размер образца и ход столика: 150 х 150 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 4/ Leica DM 6
Прямой инспекционный исследовательский микроскоп с моторизованными компонентами Leica DM 4/ Leica DM6.
Комплектации M (металлографический или инспекционный) и P (поляризационный).
Увеличение 12,5 до 3000 крат
Максимальный размер образца и ход столика: 150 х 150 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Прямой инспекционный УФ микроскоп проходящего и падающего света Leica DM800 / DM12000
Прямой ультрафиолетовый (UV) микроскоп Leica DM8000 / DM12000 для контроля полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Микроскоп DM8000 позволяет работать на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря освещению УФ 365нм и косому освещению. Пользователь может различить видимые структуры в 160 нм.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм / 300 x 300 мм
Наблюдение образцов можно проводить в отраженном свете.
УФ освещение (365 нм)
Косое освещение
Инфракрасное освещение (ИК) для контроля девектов в пластине
Методы контрастирования: светлое, темное поле, поляризация, ДИК, ультрафиолетовое освещение UV и OUV, наклонное освещение, макро режим, ИК
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Прямой инспекционный УФ микроскоп проходящего и падающего света Leica DM800 / DM12000
Прямой ультрафиолетовый (UV) микроскоп Leica DM8000 / DM12000 для контроля полупроводниковых пластин в микроэлектронике.
Микроскоп DM8000 позволяет работать на сверхпредельном оптическом разрешении, благодаря освещению УФ 365нм и косому освещению. Пользователь может различить видимые структуры в 160 нм.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм / 300 x 300 мм
Наблюдение образцов можно проводить в отраженном свете.
УФ освещение (365 нм)
Косое освещение
Инфракрасное освещение (ИК) для контроля девектов в пластине
Методы контрастирования: светлое, темное поле, поляризация, ДИК, ультрафиолетовое освещение UV и OUV, наклонное освещение, макро режим, ИК
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 2700M
Микроскоп Leica DM2700 предназначен для рутинной лабораторной работы в области металловедения, микроэлектроники, петрографии в проходящем и отраженном свете.
Прямой исследовательский микроскоп Leica DM 2700. Комплектации M (металлографический) и P (поляризационный)
Во всех базовых версиях также присутствует метод наклонного освещения, позволяющий исследовать топографию поверсхностей.
Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.
Наличие поляризационного комплекта для задач минералогии.
Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 100 х 100 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
Исследовательский и инспекционный микроскоп Leica DM 2700M
Микроскоп Leica DM2700 предназначен для рутинной лабораторной работы в области металловедения, микроэлектроники, петрографии в проходящем и отраженном свете.
Прямой исследовательский микроскоп Leica DM 2700. Комплектации M (металлографический) и P (поляризационный)
Во всех базовых версиях также присутствует метод наклонного освещения, позволяющий исследовать топографию поверсхностей.
Цветовое кодирование апертурной диафрагмы помогает пользователю работать с наиболее оптимальными настройками для выбранного объектива.
Наличие поляризационного комплекта для задач минералогии.
Увеличение 7 до 3000 крат
Максимальный размер образца и хода столика: 100 х 100 мм
Фокусировка по Z - 25 мм
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Методы контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, флуоресценция.
ООО "Минатех"— Микро и нано технологии
Статьи
© Все права защищены
Россия, Москва, ул. Ткацкая, д.5с1.
тел./факс: +7 (495) 909-89-53 / +7 (495) 909-89-54
моб.тел.: +7 (926) 134-69-15
e-mail: info@minateh.ru
