+7 (495) 909-89-53

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6010

сканирующий электронный микроскоп фото

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JSM-6010 

Особенности

Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением. Отличительной особенностью данной модели является его мобильность, т.е. для его работы не требуется подключение воды, а все вакуумные насосы находятся непосредственно на главном блоке, таким образом микроскоп можно перемещать по помещению, главное что бы рядом был источник электричества.

Прибор оснащен детекторами вторичных и обратноотраженных электронов, а также позволяет работать в условиях низкого вакуума. Это позволяет решать с помощью данного микроскопа широкий спектр задач в области материаловедения, биологии, медицины, геологии и т.д.

Новая операционная система микроскопа JEOL JSM-6010 ориентирована как на начинающих пользователей, так и на тех, кто работал с другими рабочими средами. Система не только обладает интуитивно понятным программным обеспечением, но также снабжена сенсорным дисплеем, который позволяет легко и быстро выполнять нужные действия. Опционально прибор может быть оборудован системой беспроводной связи, что позволит ПК подключаться при помощи беспроводного соединения. Благодаря этому, ПК можно разместить там, где это удобно. Управление осуществляется при помощи сенсорного дисплея и/или мыши.

Обслуживание прибора максимально упрощено, так например замена катода осуществляется оператором прибора и не представляет технических сложностей поскольку в JCM-6000 используется сменный источник электронов, который включает в себя Венельт и катод при этом очистка и центрирование катода не требуются. Кроме того JSM-6010 автоматически корректирует геометрию пучка после замены катода, заметно упрощая эту процедуру для конечного пользователя.

JSM-6010 может быть укомплектован рентгеновским энергодисперсионным спектрометром (ЭДС) с кремний-дрейфовым безазотным детектором, который позволяет проводить элементный анализ, строить карты распределения концентрации элементов, проводить исследования, совмещающие данные о химическом составе и морфологии микроструктуры образца. Диапазон анализируемый элементов от B до U, разрешение <=133 эВ.

Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость прибора и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве

Видеопрезентация микроскопа JSM-6010

Характеристики

Режимы работы Высоковакуумный режим, низковакуумный режим
Разрешение в режиме высокого вакуума 4,0 нм (20 кВ), 8,0 нм (3 кВ), 15нм (1кВ)
Разрешение в режиме ниprого вакуума 5,0 нм (20 кВ)
Ускоряющее напряжение 0,5-20 кВ
Диапазон увеличений от х5 до х300 000
Столик Эвцентрический гониометрический столик с моторизацией по 2 или 3 осям (опция)
Диапазон перемещения столика Диапазон перемещений: X: 80 мм, Y: 40мм, Z: 43 мм
Наклон: от -10° до 90°, вращение - 360°
Максимальный размер образца диаметр до 150 мм, высота до 50 мм
Катод W, кассетного типа
Система откачки Полностью автоматическкая: турбомолекулярный насос  + ротационный насос
Операционная система для MS Windows 7 Pro + touch screenдисплей 23 дюйма для управления
Детектор Детектор вторичных и детектор обратно рассеянных электронов
Опции Лабораторная установка вакуумного напыления 
Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6010

Также Вас может заинтересовать
Новый настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-7000 Neoscope

JEOL JCM-7000 NEOSCOPE - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 100 000 крат 
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 50 мм
Опции: 
-Лабораторная установка вакуумного напыления 
-Столик с вращением и наклоном
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
-Предметный столик для механических испытаний
-Детектор индуцированных токов (EBIC) 
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению

JEOL JCM-7000 NEOSCOPE - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 100 000 крат 
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 50 мм
Опции: 
-Лабораторная установка вакуумного напыления 
-Столик с вращением и наклоном
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
-Предметный столик для механических испытаний
-Детектор индуцированных токов (EBIC) 
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT500

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 30 кВ
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
  • Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 30 кВ
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
  • Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-6000PLUS Neoscope II

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления