+7 (495) 909-89-53

Термоэмиссионные растровые электронные микроскопы JEOL

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-6000PLUS Neoscope II

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6010

Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением.

Увеличение от 5 до 300 000 крат
Ускоряющее напряжение до 20 кВ
Разрешение до 4 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 150 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT100

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT100 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. Этот прибор принадлежит к семейству многофункциональных РЭМ InTouchScopes.

Увеличение от 5 до 300 000 крат
Ускоряющее напряжение до 20 кВ или до 30 кВ (опция)
Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Образец: до 150 мм в диаметре
Перемещение столика: X-80 мм, Y-40 мм, высота до 43 мм
Опция - интегрированный ЭДС

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT300

JEOL JSM-IT300 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

Увеличение от 5 до 300 000 крат
Ускоряющее напряжение до 30 кВ
Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

Двухлучевая система JEOL серии JIB-4501 с термоэмиссией

JIB-4501 – это двухлучевая система, представляющая собой многофункциональный растровый электронный микроскоп, оснащенный мощной ионной пушкой. Прибор может одновременно быть использован и в режиме РЭМ, и в режиме ионного микроскопа или системы ионного травления.

Ионная пушка + расторовый электронный микроскп с термоэмиссией 
Ионная пушка с ускоряющими напряжением от 1 до 30 кВ
Электронно-оптическая колонна ускоряющим напряженм от 0,3 до 30 кВ 
Увеличение на РЭМ от 5 до 300 000 крат
Ускоряющее напряжение до 30 кВ
Разрешение до 2,5 нм в режиме высокого вакуума
Диаметр образца до 75 мм, высота до 30 мм

Новости

Все новости

Система плазменной очистки ATTO с нашего склада в Москве

Подробнее

Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing & Control

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее