+7 (495) 909-89-53

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT500

принцип работы сканирующего электронного микроскопа 4_s3_s2_s1_sjsmit300_soft

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JSM-IT500 с большой камерой для образцов.

Особенности

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

На корпусе микроскопа предусмотрено множество портов, это позволяет одновременно устанавливать различные дополнительные системы анализа системы такие как: система энергодисперсионного анализа, система волнодисперсионного анализа и система дифракции обратно-рассеяных электронов или несколько детекторов энергодисперсионного анализа, что превращает микроскоп в универсальный аналитический комплекс. Так же возможна установка системы катодолюминисценции, рентгеновской томографии, различные системы индентирования и.т.д.

Микроскоп оборудован большой камерой образцов, позволяющей исследовать образцы диаметром до 200 мм и высотой 80 мм. Полностью автоматизированный эвцентрический, асинхронный, пяти осевой моторизованный столик может выдерживать вес образца до 2 килограмм включительно, это позволяет исследовать массивные образцы без их предварительного деления.

Новая рабочая среда микроскопа удобна и интуитивно понятна. Управление микроскопом может осуществляться с сенсорного экрана, что позволяет легко и быстро выполнять нужные действия

В микроскопе JEOL JSM-IT300 реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 650 Па. Это позволяет проводить исследование непроводящих биологических образцов без предварительной пробоподготовки.

Видеопрезентация микроскопа JSM-IT500

Характеристики

Режимы работы Высоковакуумный режим, низковакуумный режим
Разрешение в режиме высокого вакуума 3,0 нм (30 кВ), 15,0 нм (1 кВ)
Разрешение в режиме низкого вакуума 4,0 нм (30 кВ)
Ускоряющее напряжение 0,3-30 кВ
Ток пучка 1 пА—1 мкА
Диапазон увеличений от х5 до х300 000
Столик Эвцентрический гониометрический столик с моторизацией по 5-ти осям
Диапазон перемещения столика Диапазон перемещений: X: 125 мм, Y: 100мм, Z: 80 мм
Наклон: от -10° до 90°, вращение - 360°
Максимальный размер образца диаметр до 200 мм, высота до 80 мм, вес образца до 2 кг.
Катод W, кассетного типа
Система откачки Полностью автоматическкая: турбомолекулярный насос  + ротационный насос
Операционная система для MS Windows 7 Pro + touch screenдисплей 23 дюйма для управления
Детектор Детектор вторичных и детектор обратно рассеянных электронов
Опции Лабораторная установка вакуумного напыления
Катод из LaB6 
Энергодисперсионный анализатор (ЭДС), Волнодисперсионный спектрометр (ВДС), EBIC, EBSD и др.

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT500

Также Вас может заинтересовать
Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-6000PLUS Neoscope II

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT200

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT200 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. Этот прибор принадлежит к семейству многофункциональных РЭМ InTouchScopes.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 20 кВ или до 30 кВ (опция)
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Образец: до 150 мм в диаметре
  • Перемещение столика: X-80 мм, Y-40 мм, высота до 43 мм
  • Опция - интегрированный ЭДС

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT200 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. Этот прибор принадлежит к семейству многофункциональных РЭМ InTouchScopes.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 20 кВ или до 30 кВ (опция)
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Образец: до 150 мм в диаметре
  • Перемещение столика: X-80 мм, Y-40 мм, высота до 43 мм
  • Опция - интегрированный ЭДС

Новый настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-7000 Neoscope

JEOL JCM-7000 NEOSCOPE - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 100 000 крат 
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 50 мм
Опции: 
-Лабораторная установка вакуумного напыления 
-Столик с вращением и наклоном
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
-Предметный столик для механических испытаний
-Детектор индуцированных токов (EBIC) 
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению

JEOL JCM-7000 NEOSCOPE - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 100 000 крат 
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 50 мм
Опции: 
-Лабораторная установка вакуумного напыления 
-Столик с вращением и наклоном
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
-Предметный столик для механических испытаний
-Детектор индуцированных токов (EBIC) 
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению