+7 (495) 909-89-53

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT200

сканирующий электронный микроскоп смотреть фото

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JSM-IT200 

Особенности

Компактный растровый электронный микроскоп JSM-IT100 создавался как бюджетная модель в линейке РЭМ нового поколения компании JEOL. Этот прибор принадлежит к тому же семейству многофункциональных РЭМ InTouchScopes, что и настольная модель JCM-6000 (NeoScope II), и высокопроизводительный аналитический растровый электронный микроскоп JSM-IT300.

Система управления JSM-IT200, основанная на Windows 7, проста и интуитивно понятна. Она позволяет управлять микроскопом четырьмя способами: при помощи клавиатуры и мыши; при помощи консоли оператора РЭМ; используя сенсорный 23-дюймовый монитор; дистанционно, с iPad по сети Wi-Fi. Последний способ хорош при работе с вредными для здоровья оператора образцами или для исследований в «чистых помещениях», где длительное нахождение персонала нежелательно. Все функции управления микроскопом автоматизированы: откачка, накал катода, фокусировка изображения, устранение астигматизма, корректировка яркости и контраста и т.п. Это позволяет даже начинающим пользователям JSM-IT100 быстро освоить работу на приборе. Для опытных операторов оставлена возможность самостоятельно осуществлять настройки всех вышеуказанных параметров вручную.

Конденсорная линза микроскопов данной серии позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса. Отклоняющие катушки (дефлекторы) рассчитаны на большие углы отклонения электронного пучка, что делает удобной работу с большими образцами, с которыми довольно часто сталкиваются операторы центральных заводских лабораторий. Катоды, используемые в JSM-IT100, предварительно отцентрированы на заводе, и их замена занимает считанные минуты. Диафрагма объективной линзы легко заменяется и центрируется силами оператора, что значительно ускоряет и удешевляет сервисное обслуживание прибора.

В микроскопе JSM-IT100 реализована функция съемки образцов в режиме низкого вакуума. Давление в камере образцов может варьироваться в пределах от 10 до 100 Па. Это позволяет исследовать непроводящие и биологические образцы без предварительной пробоподготовки.

Также РЭМ JEOL JSM-IT100 может быть укомплектован компактным, недорогим энергодисперсионным спектрометром производства компании JEOL, позволяющим проводить спектральное картирование, анализ элементного состава в отдельных точках и вдоль линии, автоматически компенсировать дрейф столика образцов.

JSM-IT100 достаточно легок, компактен, прост в управлении и универсален. Он занимает мало места в лаборатории и легко может быть перемещен в пределах помещения или здания, ведь все, что ему нужно для работы, – это пара квадратных метров площади и стандартная однофазная розетка с заземлением мощностью от 1,5 кВт, а габариты и масса прибора позволяют перевозить его даже в пассажирском лифте.

Основные преимущества:
• Надежная электронно-оптическая колонна, использующая конденсорную линзу специальной конструкции, позволяет плавно менять ток пучка, не меняя при этом положения фокуса; 
• Катоды предварительно отцентрированы на заводе; их замена занимает считанные минуты; 
• Полностью автоматизированная и хорошо защищенная от различных нештатных ситуаций вакуумная система ; 
• Простой и интуитивно понятный пользовательский интерфейс под ОС Windows 7 с хорошо развитой системой подсказок и обучающих видеопособий; 
• Программа Smile View для быстрого создания отчетов; 
• Использование шлюзовой камеры снижает время замены образца, уменьшает загрязнение камеры образцов, нивелирует риск повреждения аналитических приставок из-за резких перепадов давления, продлевает срок службы катода и диафрагмы объективной линзы в несколько раз; 
• Большая камера образцов позволяет работать с объектами диаметром до 150 мм, а также устанавливать множество разнообразных приставок.

Характеристики

Режимы работы Высоковакуумный режим, низковакуумный режим
Разрешение в режиме высокого вакуума 4,0 нм (20 кВ), 8,0 нм (3 кВ), 15нм (1кВ)
3,0 (30 кВ) - опция
Разрешение в режиме низкого  вакуума 5,0 нм (20 кВ)- детектор отраженных электронов
4,0 нм (30 кВ) - опция
Ускоряющее напряжение 0,5-20 кВ
0,5-30 кВ (опция)
Диапазон увеличений от х5 до х300 000 (в пересчете на размеры фотопластины 128х96мм)
Столик Эвцентрический гониометрический столик с моторизацией по 2 или 3 осям 
Моторизация по 5-ти осям - опция
Диапазон перемещения столика Диапазон перемещений: X: 80 мм, Y: 40мм, Z: 43 мм
Наклон: от -10° до 90°, вращение - 360°
Максимальный размер образца диаметр до 150 мм, высота до 50 мм
Катод W, кассетного типа
Система откачки Полностью автоматическкая: форвакуумный ротационный насос, турбомолекулярный насос
Операционная система для MS Windows 7 Pro + touch screenдисплей 23 дюйма для управления
Детектор Детектор вторичных и детектор обратно рассеянных электронов
Опции Энергодисперсионный спектрометр
Система катодолюминесценции
Наноманипуляторы
Детектор тока, индуцированного пучком (EBIC)
Столики образцов с функциями охлаждения и нагрева
Столик образцов для механических испытаний

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT200

Также Вас может заинтересовать
Новый настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-7000 Neoscope

JEOL JCM-7000 NEOSCOPE - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 100 000 крат 
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 50 мм
Опции: 
-Лабораторная установка вакуумного напыления 
-Столик с вращением и наклоном
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
-Предметный столик для механических испытаний
-Детектор индуцированных токов (EBIC) 
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению

JEOL JCM-7000 NEOSCOPE - новейший компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 100 000 крат 
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 80 мм, высота до 50 мм
Опции: 
-Лабораторная установка вакуумного напыления 
-Столик с вращением и наклоном
-Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
-Предметный столик для механических испытаний
-Детектор индуцированных токов (EBIC) 
-Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
-Навигация по оптическому изображению

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT500

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 30 кВ
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
  • Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 30 кВ
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
  • Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-6000PLUS Neoscope II

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления