+7 (495) 909-89-53

Новый настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-7000 Neoscope

настольный сканирующий электронный микроскоп Принцип-работы-JCM-7000Настольный-электронный-микроскоп_JCM-7000

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JCM-7000 Neoscope

Особенности

Новейший настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простая в использовании электронная микроскопия с плавной навигацией и анализом в реальном времени». JCM-7000 включает в себя три инновационные функции; «Zeromag» для плавного перехода от оптической к SEM-визуализации, «Live-анализ» для поиска составляющих элементов для области наблюдения изображения и «Live 3D» для отображения восстановленного живого 3D-изображения во время SEM-наблюдения.

Если вы поместите JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом, вы сможете проводить более быстрый и более подробный анализ инородных материалов и контроль качества.

JCM-7000 Neoscope – имеет вольфрамовый источник электронов (катод) . Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов, он обладает намного большей глубиной фокуса и несравнимо лучшим разрешением. Как следствие этого, JCM-7000 может работать в диапазоне увеличений от x10 до х100000 крат. Программное обеспечение позволяет проводить высокоточные количественные измерения на изображениях. Небольшие размеры,  возможность легкого перемещения на колесиках и необходимость только в одной стандартной электророзетке для подключения, дают возможность использовать JCM-7000 как демонстрационный прибор, либо как перевозимый прибор в составе мобильной лаборатории. Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве. Прибор настолько надежен в эксплуатации, прост и удобен в работе, что помимо использования для решения рутинных задач, он может использоваться и в учебных целях.

Время затрачиваемое на смену образца всего 2 минуты от перестановки образца до момента начала работы. Откачка воздуха начинается сразу после загрузки образца и закрытия дверцы камеры. После откачки воздуха, автоматизированная система регулировки и масштабирования изображения подберет необходимые параметры, которые позволят получить четкое изображение.Обслуживание прибора максимально упрощено, так например замена катода осуществляется оператором прибора и не представляет технических сложностей поскольку в JCM-7000 используется сменный источник электронов, который включает в себя Венельт и катод при этом очистка и центрирование катода не требуются. Кроме того JCM-6000 автоматически корректирует геометрию пучка после замены катода, заметно упрощая эту процедуру для конечного пользователя.

Видеопрезентация микроскопа JCM-7000 Neoscope

Характеристики

Режимы работы Высоковакуумный режим, низковакуумный режим
Ускоряющее напряжение 5, 10 либо 15 кВ
Диапазон увеличений от х10 до х100 000
Максимальный размер образца диаметр до 80 мм, высота до 50 мм
Столик Моторизованный по осям XY
Катод W, кассетного типа в сборе с циллиндром Венельта
Система откачки Турбомолекулярный насос (опция) + ротационный насос
Операционная система для MS Windows 7 Pro + touch screenдисплей для управления
Детектор Детектор вторичных и детектор обратно рассеянных электронов
Опции Лабораторная установка вакуумного напыления 
Столик с вращением и наклоном
Энергодисперсионный анализатор (ЭДС)
Предметный столик для механических испытаний
Детектор индуцированных токов (EBIC) 
Предметный столик с охлаждением и нагревом образца
Навигация по оптическому изображению

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Новый настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-7000 Neoscope

Также Вас может заинтересовать
Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-6010

Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 20 кВ Разрешение до 4 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 150 мм, высота до 50 мм
  • Опция - интегрированный ЭДС

Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 20 кВ Разрешение до 4 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 150 мм, высота до 50 мм
  • Опция - интегрированный ЭДС

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-IT500

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 30 кВ
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
  • Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.

  • Увеличение от 5 до 300 000 крат
  • Ускоряющее напряжение до 30 кВ
  • Разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума
  • Режимы высокого и низкого вакуума
  • Диаметр образца до 200 мм, высота до 80 мм, до 2 кг
  • Опция - интегрированный ЭДС, ВДС и др.

Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JCM-6000PLUS Neoscope II

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления

JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.

Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления