Настольный сканирующий (растровый) электронный микроскоп производства JEOL (Япония) серии JCM-7000 Neoscope
Новейший настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 разработан на основе ключевой концепции «Простая в использовании электронная микроскопия с плавной навигацией и анализом в реальном времени». JCM-7000 включает в себя три инновационные функции; «Zeromag» для плавного перехода от оптической к SEM-визуализации, «Live-анализ» для поиска составляющих элементов для области наблюдения изображения и «Live 3D» для отображения восстановленного живого 3D-изображения во время SEM-наблюдения.
Если вы поместите JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом, вы сможете проводить более быстрый и более подробный анализ инородных материалов и контроль качества.
JCM-7000 Neoscope – имеет вольфрамовый источник электронов (катод) . Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов, он обладает намного большей глубиной фокуса и несравнимо лучшим разрешением. Как следствие этого, JCM-7000 может работать в диапазоне увеличений от x10 до х100000 крат. Программное обеспечение позволяет проводить высокоточные количественные измерения на изображениях. Небольшие размеры, возможность легкого перемещения на колесиках и необходимость только в одной стандартной электророзетке для подключения, дают возможность использовать JCM-7000 как демонстрационный прибор, либо как перевозимый прибор в составе мобильной лаборатории. Дружественное программное обеспечение, простота управления, невысокая стоимость и низкие эксплуатационные расходы делают этот прибор очень привлекательным для использования в научно-образовательных целях, а также при проведении поточных серийных исследований на производстве. Прибор настолько надежен в эксплуатации, прост и удобен в работе, что помимо использования для решения рутинных задач, он может использоваться и в учебных целях.
Время затрачиваемое на смену образца всего 2 минуты от перестановки образца до момента начала работы. Откачка воздуха начинается сразу после загрузки образца и закрытия дверцы камеры. После откачки воздуха, автоматизированная система регулировки и масштабирования изображения подберет необходимые параметры, которые позволят получить четкое изображение.
Режимы работы | Высоковакуумный режим, низковакуумный режим |
Ускоряющее напряжение | 5, 10 либо 15 кВ |
Диапазон увеличений | от х10 до х100 000 |
Максимальный размер образца | диаметр до 80 мм, высота до 50 мм |
Столик | Моторизованный по осям XY |
Катод | W, кассетного типа в сборе с циллиндром Венельта |
Система откачки | Турбомолекулярный насос (опция) + ротационный насос |
Операционная система | для MS Windows 7 Pro + touch screenдисплей для управления |
Детектор | Детектор вторичных и детектор обратно рассеянных электронов |
Опции | Лабораторная установка вакуумного напыления Столик с вращением и наклоном Энергодисперсионный анализатор (ЭДС) Предметный столик для механических испытаний Детектор индуцированных токов (EBIC) Предметный столик с охлаждением и нагревом образца Навигация по оптическому изображению |
Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением.
Это начальная модель в линейке напольных растровых электронных микроскопов компании JEOL. Микроскоп JEOL JSM 6010 оборудован электронно-оптической системой схожей со старшими моделями, что позволяет получать на нем изображения с высоким разрешением.
JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.
JEOL JSM-IT500 - новый высокопроизводительный многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован новой улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.
JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.
Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления
JEOL JCM-6000PLUS NEOSCOPE II - компактный растровый электронный микроскоп, который не требует специальных знаний в области электронной микроскопии. Прибор может использоваться для учебных целей или при решении различных рутинных задач.
Увеличение от 10 до 60 000 крат
Разрешение до 20 нм в режиме высокого вакуума
Режимы высокого и низкого вакуума
Диаметр образца до 70 мм, высота до 50 мм
Опция - интегрированный ЭДС, столик с вращение и наклоном, спец ПО, установка напыления