+7 (495) 909-89-53

S lynx 2 - НОВЫЙ компактный 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

профилометр, оптическая интерферометрия фото

S lynx 2 производства SENSOFAR (Испания)  - новый (2024г) компактный новый 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп. S lynx 2 новое слово в оптической 3D профилометрии. S lynx 2 объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. 
Максимальное разрешение по оси Z  - 5 нм!

Применение:

  • Машиностроение
  • Материаловедение  
  • Энергетика
  • Криминалистика
  • Контроль лазерной гравировки
  • Микроэлектроника 
  • Микромеханика
  • Оптика
  • Полупроводники
  • Потребительская электроника
  • Фотовольтика
  • Дисплеи


Применяемые технологии:
Конфокальная микроскопия (Confocal)  
Интерферометрия (Interfefometry: VSI)
Изменение фокуса (Ai Focus Variation)

Особенности

  • Максимальное разрешение по оси Z - 5 нм.
  • S Lynx 2 разработан для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества
  • Основанный на технологии микро-дисплея, S lynx 2 позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10  секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции S lynx 2 является отличным аналитическим инструментом.
  • Прибор использует камеру высокого разрешения 1024x1024 px (150 fps) . Прибор имеет 2(два) LED источника света внутри оптического ядра: белый (580 нм), синий (460 нм).
  • Высокоэффективная подсветка и алгоритм высокого контраста идеальны для углового измерения поверхностей с крутизной склонов более 70°. Возможно производить измерения грубо обработанных и отражающих поверхностей, а так же образцов, содержащих разнородные материалы.
  • Моторизованный револьвер на 6 позиций. (Обхективы: 2.5Х до 100Х)
  • S lynx 2 полностью готовый к работе прибор. Компактный дизайн делает прибор идеальным для быстрого, неразрушающего анализа микро- и наногеометрии поверхности. Прибор представляет собой гибкое решение как для работы и исследований в лаборатории так и для исследований и контроля качества в производстве.
  • Моторизованный столик для S lynx 2: перемещение 125 мм x 75 мм.
  • Регулировка по Z: 100 мм ручная регулировка колонны по высоте
  • Мощное программное обеспечение SensoSCAN
Брошюра S lynx 2 в PDF



Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

S lynx 2 - НОВЫЙ компактный 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

Также Вас может заинтересовать
S mart - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений

S mart производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений или измерений в производственом процессе. S mart новое слово в оптической 3D профилометрии. S mart объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. Прибор можетустанавливаться на обрабатывающие станки и центра для контроля обработки деталей и образцов. 
Прибор выполнен с пылезащищенном исполнении.
Измерение шероховатости до 10 нм! Уголо до 86о
Разрешение по Z  - 2 нм.

S mart производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп для in-situ измерений или измерений в производственом процессе. S mart новое слово в оптической 3D профилометрии. S mart объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. Прибор можетустанавливаться на обрабатывающие станки и центра для контроля обработки деталей и образцов. 
Прибор выполнен с пылезащищенном исполнении.
Измерение шероховатости до 10 нм! Уголо до 86о
Разрешение по Z  - 2 нм.

S neox - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп

Новый S neox производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп. S neox новое слово в оптической 3D профилометрии. S neox объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. 
Максимальное разрешение по оси Z  - 0,5 нм!
Новый S neox стал в 5 раз быстрее!

Теперь достпупны измерения в 5-ти осях с S neox Five Axis.


Новый S neox производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп. S neox новое слово в оптической 3D профилометрии. S neox объединил в себе все существующие технологии в оптической профилометрии. Прибор объединяет в одной сенсорной головке технологии конфокальной микроскопии и интерферометрии без каких либо движущихся частей. 
Максимальное разрешение по оси Z  - 0,5 нм!
Новый S neox стал в 5 раз быстрее!

Теперь достпупны измерения в 5-ти осях с S neox Five Axis.


Уже установлено в России и СНГ: 28 шт
S wide - 3D оптическая метрологическая система для образцов больших размеров

Новый S wide производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптическая измерительная система для образцов большой площади на основе метода Fringe projection profilometry.  

Получение профиля размером 300х300 мм всего менее чем за 1 минуту.
Максимальная область сканирования: до 300х300 мм2
Источики света: 530 нм (зеленый) и 460 нм (синий)
Рабочее расстония: 80 мм
Поле зрения 34.7 x 29.1 мм
Измерение образца с высотой профиля до 40 мм за один скан без сканирования по Z.

Новый S wide производства SENSOFAR (Испания)  - 3D оптическая измерительная система для образцов большой площади на основе метода Fringe projection profilometry.  

Получение профиля размером 300х300 мм всего менее чем за 1 минуту.
Максимальная область сканирования: до 300х300 мм2
Источики света: 530 нм (зеленый) и 460 нм (синий)
Рабочее расстония: 80 мм
Поле зрения 34.7 x 29.1 мм
Измерение образца с высотой профиля до 40 мм за один скан без сканирования по Z.