SENTECH анонсировал серию новейших спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0 с диапазоном длин волн: DUV-VIS-NIR (ГУФ-ВИД-ИК) специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Подробнее...
Новости
Все новости
МИНАТЕХ завершил поставку и внедрение спектроскопического эллипсометра от Ellitop
Подробнее
МИНАТЕХ произвел поставку и запуск системы плазменной обработки COVANCE от FEMTO SCIENCE (Р. Корея)
Подробнее
МИНАТЕХ завершил поставку и внедрение двух спектроскопических эллипсометров от Ellitop
Подробнее
МИНАТЕХ завершил поставку и запуск двух настольных электронных микроскопов CUBE II от EmCrafts (Корея)
Подробнее
МИНАТЕХ завершил поставку двух центрифуг модели SPIN-1200T
Подробнее
МИНАТЕХ произвел поставку настольной платформы с активной виброизоляцией фирмы DAEIL SYSTEMS (Корея)
Подробнее
ООО "Минатех"— Микро и нано технологии
Статьи
© Все права защищены
Россия, Москва, ул. Ткацкая, д.5с1.
тел./факс: +7 (495) 909-89-53 / +7 (495) 909-89-54
моб.тел.: +7 (926) 134-69-15
e-mail: info@minateh.ru
