+7 (495) 909-89-53

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

SENTECH анонсировал серию новейших спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0 с диапазоном длин волн: DUV-VIS-NIR (ГУФ-ВИД-ИК) специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно-  и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Подробнее...

Новости

Все новости

Поставка двух центрифуг SPIN-1200T

Подробнее

В одном из Московских Университетов запущен спектроскопический эллипсометр SER 850 DUV

Подробнее

В ФГБНУ ТИСНУМ запущен 3D оптический профилометр-конфокальный микроскоп S neox

Подробнее

В АО "Протон" запущена первая в РФ установка MLA150

Подробнее

Центрифуга SPIN-1200T с нашего слада

Подробнее

Инспекционный микроскоп Leica DM2700M с нашего склада в Москве по антикризисной цене!

Подробнее

Выставка - SEMIEXPO 2018

Подробнее

Плазменная очистка ATTO

Подробнее

В РХТУ запущен спектроскопический эллипсометр SENTECH SER 800

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецким специалистом по метрологии SURAGUS

Подробнее

Новая установка безмасковой лазерной литографии DWL 66+

Подробнее

МИНАТЕХ начинает сотрудничество с немецкой компанией Accurion GmbH

Подробнее

Процесс совмещения на установках MLA от HIMT

Подробнее

Новый компактный 3D профилометр-конфокальный микроскоп S lynx от SENSOFAR

Подробнее

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

Подробнее