SENTECH анонсировал серию новейших спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0 с диапазоном длин волн: DUV-VIS-NIR (ГУФ-ВИД-ИК) специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Подробнее...
Новости
Все новостиМИНАТЕХ произвел поставку и запуск системы плазменной обработки COVANCE от FEMTO SCIENCE (Р. Корея)
ПодробнееМИНАТЕХ завершил поставку и внедрение двух спектроскопических эллипсометров от Ellitop
ПодробнееМИНАТЕХ завершил поставку и запуск двух настольных электронных микроскопов CUBE II от EmCrafts (Корея)
ПодробнееМИНАТЕХ завершил поставку двух центрифуг модели SPIN-1200T
ПодробнееМИНАТЕХ произвел поставку настольной платформы с активной виброизоляцией фирмы DAEIL SYSTEMS (Корея)
ПодробнееМИНАТЕХ завершил поставку ручной аналитической зондовой станции MST4000А и двух виброизоляционных платформ серии DVIA-T
Подробнее