+7 (495) 909-89-53

SENTECH анонсировал новую серию спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0.

SENTECH анонсировал серию новейших спектроскопических эллипсометров SENresearch 4.0 с диапазоном длин волн: DUV-VIS-NIR (ГУФ-ВИД-ИК) специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно-  и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Подробнее...

Новости

Все новости

МИНАТЕХ произвел поставку и запуск системы плазменной обработки COVANCE от FEMTO SCIENCE (Р. Корея)

Подробнее

МИНАТЕХ завершил поставку и внедрение двух спектроскопических эллипсометров от Ellitop

Подробнее

МИНАТЕХ завершил поставку и запуск двух настольных электронных микроскопов CUBE II от EmCrafts (Корея)

Подробнее

МИНАТЕХ завершил поставку двух центрифуг модели SPIN-1200T

Подробнее

МИНАТЕХ произвел поставку настольной платформы с активной виброизоляцией фирмы DAEIL SYSTEMS (Корея)

Подробнее

МИНАТЕХ завершил поставку ручной аналитической зондовой станции MST4000А и двух виброизоляционных платформ серии DVIA-T

Подробнее