Микроскоп проходящего и отраженного света Nexcope серии NX
Инспекционные микроскопы Nexcope NX600/ NX800 / NX1000 предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем.
NX600R - изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. NX600TR - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 150 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
NX800R - изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. NX800TR - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
NX1000R/NX1000TR - изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом освещении. NX1000TR - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Максимальный размер образца: 300 х 300 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Объективы: 5х, 10х, 20х, 50х, 100х
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и отраженного света Nexcope серии NX
Инспекционные микроскопы Nexcope NX600/ NX800 / NX1000 предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем.
NX600R - изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. NX600TR - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 150 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
NX800R - изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. NX800TR - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
NX1000R/NX1000TR - изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом освещении. NX1000TR - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Максимальный размер образца: 300 х 300 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Объективы: 5х, 10х, 20х, 50х, 100х
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Инспекционные микроскопы Nexcope серии NX применяются в полупроводниковой промышленности, микроэлектронике для контроля качества печатных плат, интегральных схем, пластин, дисплеев, MEMS, фотошаблонов, а также деталей приборов в машиностроении.
Инспекционные микроскопы Nexcope серии NX предназначены для изучения поверхности полупроводниковых пластин, печатных плат и электронных компонентов. Объектив расположен над поверхностью образца. Поэтому важнейшим параметром является рабочее расстояние объектива, позволяющее изучать элементы, расположенные на разной высоте. Для наблюдения мелких деталей и незначительных различий используется метод темного поля, позволяющий регистрировать только свет, рассеянный образцом.
ООО "Минатех"— Микро и нано технологии
Статьи
© Все права защищены
Россия, Москва, ул. Ткацкая, д.5с1.
тел./факс: +7 (495) 909-89-53 / +7 (495) 909-89-54
моб.тел.: +7 (926) 134-69-15
e-mail: info@minateh.ru
