Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA100/MA100L

Инвертированный металлографический микрсокоп Nikon ECLIPSE MA100 / MA100L

MA100 – это компактный инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете с использованием, как светлого поля, так и простой поляризации. Компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности. Компактные размеры делают этот микроскоп великолепным прибором с непревзойденными оптическими характеристиками, который идеально подходит для поточного контроля при производстве и сборке изделий, предъявляющих исключительные требования к качеству материалов.

Возможные методы исследования:
Светлое поле
Простая поляризация

Применение: 
Антенны, Телекоммуникации и электроника, Анализ включений шаровидного и пластинчатого графита в чугуне, Металлургия, Определение размера зерна, Исследование поверхностей, Металлургическая промышленность, Оптические телескопические системы, Мобильные телефоны, бритвы и часы

Особенности

• Освещение:  Галогенное освещение - MA100 оснащён галогенной лампой высокой интенсивности 6V30W. Регулируя яркость, обеспечивает получение изображений с естественными цветами. Светодиодное освещение - MA100L оснащен светодиодной лампой высокой интенсивностью не нуждающийся в обслуживании, имеет низкое энергопотребление, которое составляет 3 Вт. Светодиодная лампа обеспечивает равномерное изображение со стабильной цветовой температурой, независимо от изменения интенсивности света.

• Предметный столик - Стабильность управления даже для тяжелых образцов. Новый предметный столик повышенной прочности. Компанией Nikon разработан прямоугольный предметный столик MA-SR специально для МА100. Трехслойная конструкция обеспечивает стабильное управление микроскопом и позволяет исследовать тяжелые образцы, включая вложенные образцы, которые еще находятся в шлифовальных оправах.

• Апертурная диафрагма – осветлитель падающего света в стандартной комплектации выпускается с конденсором, который позволяет регулировать контрастность изображения и глубину резкости.

• Система CFI60. Изображения с использованием оптики CFI60 - Оптическая система CFI60 LU обеспечивает высокую числовую апертуру и увеличенное рабочее расстояние. Система позволяет получать яркие изображения высокого разрешения повышенной контрастности. Встроенный фотопорт делает МА100 системой для цифрового фотодокументирования. Встроенный револьвер на 5 объективов позволяет работать с различными увеличениями.

• Зеркало. Быстрое определение используемого объектива - Особенность МА100 - наличие зеркальца для удобства обзора частей микроскопа, расположенных под столиком. С помощью него можно проверить, какой объектив сейчас используется, а также посмотреть положение образца, не заглядывая под столик.

• Поляризатор/анализатор. Простая поляризация при помощи комбинированного механизма поляризатора/анализатора - Модуль MA-P/A POL упрощает наблюдения в отраженном поляризованном свете. Одна операция позволяет ввести поляризатор и анализатор в световой путь. Поляризатор может поворачиваться на 360 град., позволяя оператору выбрать направление поляризации, подходящее для данного образца. Как правило, в поляризованном свете наблюдают такие образцы, как пластик, тонкие пленки, металлы примеси, хим. реактивы, образцы подвергнутые нагрузке, стекла и т. д.

• NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений

  Управление моторизированными узлами микроскопа

  получения изображений

  анализ изображений и обработка

• Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.

• Анализ зернистости - определяет и измеряет зерна в одно- и двухфазных образцах в соответствии со стандартами J IS G0551или ASTM Е112-96/E1382-97. Результаты измерений включают: Размер зерен G, Размер зерен по участкам и/или отрезкам, Количество зерен, Индекс анизотропности,  Другие базовые статистич. данные о зернистости. Методы измерения с настройками, изменяемыми пользователем: Планиметрия, Линейные, Циркулярные, Абрамс

• Анализ чугуна – Определяет, измеряет и классифицирует содержание графита и феррита в образцах, скорректированных по содержанию графита в соответствии со стандартом JIS G5502 или ASTM A247-06.

  • Основные сферы применения

  • Классификация графитовых включений по размеру и форме

  • Включения шаровидного графита

  • Фракции графита, феррита, шаров. графита, перлита

  • Другие базовые стат. данные о чугуне

  • Настраиваемые функции включают маски изображений, ограничения по размеру, классификацию включений.

Брошюра Nikon ECLIPSE MA100 в PDF