Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA200
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования. В модели МА200 используется интегрированная система искусственного интеллекта для автоматического комбинирования полученных изображений с данными о настройках наблюдения, что обеспечивает еще более всестороннее документирование. Кроме того, новый кубический дизайн штатива обеспечивает легкий доступ к образцу на столике и револьверу объективов, а также благодаря этому дизайну микроскоп теперь занимает в 3 раза меньше места чем традиционные модели.
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
Простая поляризация
ДИК
Эпифлюоресценция
Применение:
Антенны, Телекоммуникации и электроника, Анализ включений шаровидного и пластинчатого графита в чугуне, Металлургия, Определение размера зерна, Исследование поверхностей, Металлургическая промышленность, Оптические телескопические системы, Мобильные телефоны, бритвы и часы
Простое и удобное управление с передней панели:
Элементы управления - Все элементы управления прибором вынесены на переднюю панель. Такое размещение облегчает работу оператора.
Быстрая проверка состояния - На передней панели микроскопа отображается информация о положении рабочего объектива и образца.
Автопереключение апертуры при смене режима светлое/темное поле - При переходе из режима светлого в режим темного поля, полевая и апертурная диафрагма открываются в автоматическом режиме. При возврате в режим светлого поля, восстанавливаются предыдущие настройки диафрагм.
Механизм защиты от засветки - Автоматически предотвращает засвечивание отраженным светом при переключении объективов.
Автоматически определяет позицию используемого в данный момент объектива, информация выводится на переднюю панель прибора
Комбинирование разных операций - Механизм взаимоблокировки анализатора/поляризатора подсоединение/отсоединение анализатора и поляризатора взаимозависимы.
Компактная конструкция:
Компактная конструкция глубиной 315 мм - Микроскоп смонтирован в виде бокса, при этом значительно уменьшена не только глубина, но и ширина прибора: площадь, занимаемая прибором меньше по сравнению с обычными моделями!
Стабильность/длительность эксплуатации - Снижена вибрация при наблюдениях на больших увеличениях. Повышена жесткость конструкции.
Компактный дизайн - Используются встроенные турели светофильтров, что предотвращает попадание на них пыли, это позволяет добиваться равномерного освещения. Встроенный источник питания также экономит место.
Сшивка изображений - Предусмотрена возможность комбинирования граничащих изображений для создания широкопольных изображений. Кроме того, благодаря улучшенной равномерности освещения, теперь можно получать еще более яркие изображения.
Система CFI60. Изображения с использованием оптики CFI60 - Оптическая система CFI60 LU обеспечивает высокую числовую апертуру и увеличенное рабочее расстояние. Система позволяет получать яркие изображения высокого разрешения повышенной контрастности. Встроенный фотопорт делает МА100 системой для цифрового фотодокументирования. Встроенный револьвер на 5 объективов позволяет работать с различными увеличениями.
Равномерное освещение - Более равномерное освещение обеспечивает получение четких изображений особенно при цифровом документировании.
Широкое поле зрения - Модель MA200 обеспечивает сверхширокое поле зрения с диаметром окуляра 25 мм. В сочетании с новым объективом 1х наблюдение образца с диаметром 25 мм может осуществляться в одном поле зрения.
Блок управления камерой от Nikon и программное обеспечение NIS-Elements позволяют пользователю выполнять любые операции, от получения изображения до проведения измерений, анализа и управления полученными изображениями.
Количественная настройка освещения, особенно важная при получении оптимальных настроек для наблюдения, захвата изображений и особенно создания больших комбинированных изображений, может осуществляться с помощью ПК.
Получение комбинированных изображений
Соседние изображения могут быть объединены для создания изображения с широким полем. Теперь, благодаря улучшенной равномерности освещения, стало возможно получать еще более четкие изображения.
Измерение величины зерна
Производит измерение величины зерна и показывает результаты на основе стандартов JIS и ASTM.
Измерение шаровидности графита
Проводит измерение шаровидности графита в измельченном чугуне и показывает результаты на основе стандартов JIS и ASTM.
NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений
Управление моторизированными узлами микроскопа
получения изображений
анализ изображений и обработка
Анализ зернистости - определяет и измеряет зерна в одно- и двухфазных образцах в соответствии со стандартами J IS G0551или ASTM Е112-96/E1382-97. Результаты измерений включают: Размер зерен G, Размер зерен по участкам и/или отрезкам, Количество зерен, Индекс анизотропности, Другие базовые статистич. данные о зернистости. Методы измерения с настройками, изменяемыми пользователем: Планиметрия, Линейные, Циркулярные, Абрамс
Основные сферы применения
Классификация графитовых включений по размеру и форме
Включения шаровидного графита
Фракции графита, феррита, шаров. графита, перлита
Другие базовые стат. данные о чугуне
Настраиваемые функции включают маски изображений, ограничения по размеру, классификацию включений.
| Изображение | Инвертированное |
| Методы визуализации | Светлое поле/Темное поле/Простая поляризация/ДИК/Эпифлюоресценция |
| Фокусировка | Револьверная головка с фокусировкой (фиксированный предметный столик) коаксиальная ручка грубой/точной фокусировки (с регулировкой усилия) Грубая регулировка - 4,00 мм за оборот, точная регулировка - 0,2 мм за оборот. |
| Револьверы объективов | MA2-NUI5: светлое поле/темное поле /5-позиционная револьверная головка ДИК, LV-NU5A: Механизированное светлое поле/темное поле /5-позиционная револьверная головка ДИК. D-NID6: светлое поле/темное поле /6-позиционная револьверная головка (интеллектуальная), D-NI7: светлое поле, 7-позиционная револьверная головка (интеллектуальная) |
| Предметный столик | Механический предметный столик MA2-SR (гибкая ручка перемещения по оси X/Y) Размеры: 295x215мм, ход: 50ммx50мм (с градуировкой расстояния), стандартная принадлежность: универсальный держатель образцов, диаметр 22 (с клипсой) |
| Осветитель | С предотвращением паразитной засветки, встроенный фильтр отсечки УФ Полевая диафрагма: непрерывное изменение значений (центрируется), апертурная диафрагма: непрерывное изменение значений (центрируется) Фильтр: двойной турельный (ND16, ND4/GIF, NCB, есть и другие опции); поляризационный блок (возможность выбора: с пластиной или без) Блоки фильтров для флуоресценции: B/G/V/BV; встроенная галогенная лампа 12V 50W, оптоволоконный осветитель C-HGFI HG |
| Распределение света | Окулярный тубус /задний порт: 100/0, 55/45 |
| Оптическая система | Оптика CFI60 |
| Тринокулярный тубус | Со встроенным зеркалом, регулировка межзрачкового расстояния - 50-75мм |
| Энергопотребление | 100-240 В, 50-60 Гц |
MA100 – это компактный инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете с использованием, как светлого поля, так и простой поляризации. Компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности. Компактные размеры делают этот микроскоп великолепным прибором с непревзойденными оптическими характеристиками, который идеально подходит для поточного контроля при производстве и сборке изделий, предъявляющих исключительные требования к качеству материалов.
Наблюдение: Светлое поле и поляризация.
MA100 – это компактный инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете с использованием, как светлого поля, так и простой поляризации. Компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности. Компактные размеры делают этот микроскоп великолепным прибором с непревзойденными оптическими характеристиками, который идеально подходит для поточного контроля при производстве и сборке изделий, предъявляющих исключительные требования к качеству материалов.
Наблюдение: Светлое поле и поляризация.