Cканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL серии JSM-7800F

Cканирующий (растровый) электронный микроскоп с полевой эмиссией производства JEOL (Япония) серии JSM-7800F

Особенности

JSM-7800F растровый электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и супергибридной объективной линзой. В этом микроскопе реализованы последние достижения в технологии электронной оптики, что позволяет получать на данном микроскопе изображения с очень высоким разрешением. Микроскоп JSM-7800F является уникальным исследовательским инструментом для исследования в различных областях науки.

Микроскоп JEOL JSM-7800F позволяет исследовать широкий спектр материалов позволяя получать изображения с очень высоким разрешением. Это достигается за счет технических решений примененных при создании микроскопа. В электронно-оптической колонне реализовано технология Shottky In-Lens FEG заключающая в том, что катод находится внутри конденсорной линзы это позволяет более эффективно, по сравнению с обычным размещением катода, собирать эмитируемы с катода электроны и фокусировать их. Супергибридная объективная линза позволяет значительно уменьшить хроматические и сферические аберации, что позволяет существенно улучшить разрешение, особенно при малых ускоряющих напряжениях. Микроскоп оснащен системой Gentle Beam (GB) которая позволяет уменьшать скорость электронов падающего пучка и ускорять испускаемые электроны, что существенно улучшает соотношение сигнал/шум и позволяет значительно улучшить качество изображения при низких ускоряющих напряжениях. 

Микроскоп оборудован 4-мя типами детекторов: верхний детектор электронов, верхний детектор вторичных электронов, детектор обратно отраженных электронов и нижний детектор вторичных электронов. Перед верхним детектором электронов установлен энергетический фильтр, который позволяет варьировать количество вторичных и обратно отраженных электронов, попадающих в детектор, путем выделения диапазона энергии электронов проходящих через фильтр. При этом не прошедшие через фильтр электроны детектируются верхним детектором вторичных электронов. Применение энергетического фильтра позволяет контрастировать на изображении области одинакового состава, но различные по плотности.

Супергибридная объективная линза не оказывает магнитного воздействия на образец, что позволяет без затруднений исследовать даже сильно магнитные материалы, например, такие как NdFeB с помощью аналитических приставок.