Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L300N / L300ND

Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N / L300ND модульной конструкции

L300N - модель для наблюдения в отраженном свете
L300ND - модель для наблюдения в проходящем и отраженном свете

Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.

Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.

Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.

В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L300 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек.

Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле 
ДИК
Флуоресценция

Применение: 
Антенны, Телекоммуникации и электроника, Полупроводниковые пластины, Фотошаблоны, Оптические телескопические системы, Мобильные телефоны, бритвы и часы.

Особенности

• Предотвращение загрязнения: На корпус данных микроскопов нанесено специальное антистатическое покрытие, чтобы предотвратить попадание на микроскоп посторонних частиц. Кроме того, в моторизованном револьвере объективов используется расположенный по центру экранированный мотор, который удерживает посторонние частицы внутри и предотвращает их попадание на образец.

• Фиксированная позиция ручки перемещения столика по осям X-Y: Механизмы управления для точного перемещения по осям X-Y остаются в одном и том же положении близко к передней части, что обеспечивает оптимальное положение глаз и удобную рабочую позу оператора независимо от положения предметного столика. Кроме того, эти элементы управления, а также рукоятка фокусировка расположены близко друг к другу, поэтому вы можете осуществлять управление одной рукой.

• Микроскоп L200ND позволяет осуществлять наблюдения при диаскопическим освещении с использованием различных методик: светлое и темное поле, простая поляризация и DIC (дифференциально-интерференционный контраст). Кроме того, имеется возможность осуществления эпифлуоресцентной микроскопии, в том числе с применением УФ-возбуждения при длине волны 365 нм.

• Высокая эффективность микроскопии полупроводников и органического электролюминесцентного материала.
• Тринокулярный тубус: тубус с регулируемым углом наклона позволяет осуществлять наблюдение на оптимальном для наблюдателя уровне. Тринокулярный наклоняемый тубус позволяет постоянно регулировать угол наклона от 0° до 30° , чтобы обеспечить оптимальное положение выходного зрачка. Данный окуляр также обладает сверхшироким полем зрения 25 мм.

• Моторизованный револьвер объективов с программным управлением: Микроскоп Eclipse L200A оснащен встроенным моторизованным револьвером объективов, который обладает слотом для ДИК-насадки. Кроме механического механизма click-stop данный револьвер может управляться программными средствами, чтобы останавливаться точно в положении каждого объектива. Усовершенствованная точность также значительно увеличивает долговечность револьвера. Кроме того, при вращении револьвера освещение на мгновение выключается, чтобы защитить глаза оператора.

• Моторизованный ртутно-волоконный осветитель:  Моторизованный ртутно-волоконный осветитель с предварительной центровкой Intensilight от Nikon позволяет получать потрясающие результаты наблюдения по методу эпифлуоресценции. Отпадает необходимость центровки лампы и регулировки фокуса, даже после замены лампы. Осветитель может быть расположен вдали от микроскопа, за счет чего уменьшается нагрев рядом с микроскопом и устраняется дефокусировка. Возможность регулировать интенсивность освещения и управления затвором являются залогом высокой гибкости. Средний срок службы лампы составляет 2000 часов.

• Высокоинтенсивный осветитель с галогенной лампой 12 В / 50 Вт: Новый высокоинтенсивный осветитель с галогенной лампой 12 В / 50 Вт ярче стандартного осветителя 12 В / 100 Вт. Ламповый домик с предварительной центровкой LV-LH50PC обеспечивает более высокую яркость, чем осветитель 12 В / 100 Вт, и при этом он потребляет в два раза меньше энергии. Этого вполне достаточно для наблюдения полупроводников и ЖК дисплеев. Благодаря заднему зеркалу лампового блока и оптимизации размера нити накаливания обеспечивается важнейшее для оптических систем преимущество эффективного и равномерного освещения плоскости зрачка. Для объективов с увеличением 50х или более выигрыш в яркости на 20 % выше, чем при использовании стандартного осветителя 12 В / 100 Вт.Отличается экологически безопасной конструкцией и уменьшает дефокусировку, вызываемую нагревом.

• Усовершенствованная микроскопи ДИК: Объективы CFI LU Plan от компании Nikon позволяют использовать множество методов наблюдения, включая методы светлого поля, темного поля и Номарски ДИК, при помощи одной револьверной головки микроскопа. Для наблюдения по методу ДИК просто вставьте единую призму Номарского в револьверную головку микроскопа, работающую во всех диапазонах увеличения.

• Конструкция, соответствующая стандартам SEMI S2-0200, S8-0600: Конструкция соответствует стандарту SEMI; механизмы управления и кнопки расположены снизу, близко к оператору, в то время как выходной зрачок расположен на оптимальной для удобства работы высоте. Благодаря удобному расположению элементов управления на передней части микроскопа движение рук сведено к минимуму, что позволяет оператору сконцентрироваться на процессе контроля качества. Окуляр приближен к оператору, так что он может принять более прямую сидячую позу. Благодаря этому оператор также располагается дальше от предметного столика, что обеспечивает более эргономичное и безопасное положение наблюдения.

• Оптика CFI60 с большим рабочим расстоянием и высокой числовой апертурой: Благодаря запатентованной оптике CFI60 от Nikon достигается более высокая яркость изображений за счет более высоких числовых апертур, а также возможность изучения более широкого диапазона разнообразных образцов благодаря увеличенным рабочим расстояниям. Обеспечивает четкие, высококонтрастные изображения по методу светлого поля за счет снижения уровня засветки. Система линз «Fly-eye», которая обеспечивает равномерное освещение по всему видимому полю, используется для оптики с освещением по методу темного поля, что приводит к получению ярких изображений с высоким разрешением.

• Виброизоляция: С помощью системы автоматизированного проектирования (САПР) Nikon значительно увеличил прочность конструкции микроскопов серии L300, что сделало их в три раза менее чувствительными к вибрации пола по сравнению с традиционными приборами. За счет этого, в свою очередь, сводятся к минимуму возможности нежелательного размытия или смещения изображения даже при наблюдениях с высоким уровнем увеличения. Благодаря этой передовой конструкции не только увеличивает стабильность, но и уменьшается занимаемая площадь.

• Предметные столик: Столик 14x12, перемещение: 354 x 302 мм (диапазон диаскопических наблюдений: 354 x 268 мм). Возможность грубого и точного перемещения. Контроль перемещения по оси X-Y (с фиксированным положением).

• NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений

• Управление моторизированными узлами микроскопа

  получения изображений

  анализ изображений и обработка

• Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.

• Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.

• Увеличенная глубина резкости (EDF) – комбинирует сфокусированные изображения для разных положений по оси Z и создает трехмерную картинку

Брошюра Nikon L200N/L200ND/L300N/L300ND в PDF