Микроскоп падающего света Nikon ECLIPSE LV150N / LV150NA модульной конструкции
LV150N - модель с ручным управлением с галогенным освещением
LV 150NA - моторизованная модель со светодиодным освещением
Максимальный размер образца: 150 х 150 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.
Ручной микроскоп, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие, чем когда-либо ранее, числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений.
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства. Исследование полупроводников, индикаторных панелей, корпусов, электронных подложек, материалов (материаловедение), медицинских изделий, литых / металлических / керамических деталей, изделий прецизионного формования, МЕМС, телекоммуникационных приборов и многих других видов образцов. Компоненты микроскопа – основание, предметный столик, осветительный блок и т.д. выполнены в виде отдельных модулей для обеспечения большей универсальности системы, которые можно беспрепятственно комбинировать друг с другом для получения системы с нужными характеристиками
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
ДИК
Флуоресценция
Простая поляризация
Фазовый контраст
Двухлучевая интерферметрия
Применение:
Жидкокристаллические дисплеи, Антенны, Исследование поверхностей,Телекоммуникации и электроника, МЭМС , Металлургия, Композиты, Ткани/текстиль,Оптоэлектроника, Медицинские приборы, Микроэлектроника, Металлургическая промышленность,Полупроводниковые пластины, Оптические телескопические системы,Мобильные телефоны, бритвы и часы
Изучение крупных образцов - позволяет изучать поверхности изделий прецизионного формования, оптических материалов и прочих крупногабаритных образцов
Широкий выбор предметных столиков и дополнительного оборудования - выбираются подходящие модули на основании используемых образцов и хода столика
Предметные столики других производителей – совместимость с моторизованными предметными столиками других производителей, таких как Prior Scientific со специальными адаптерами позволяет изучать образцы с высотой до 116.5 мм, благодаря чему появляется возможность изучать торцы оптоволокна и других подобных образцов
Галогенный источник освещения 12В-50Вт - Несмотря на то, что ламповый блок с предварительным центрированием имеет напряжение12В и мощность 50Вт, его яркость эквивалентна или превышает показатели источников с параметрами 12 В-100Вт. Экологичная галогенная лампа с низким энергопотреблением позволила реализовать компактную конструкцию микроскопа. Также благодаря такому типу освещения значительно снижается расфокусировка, связанная с тепловым воздействием.
Светодиодный осветитель - Светодиодный осветитель белого света был разработан специально для работы по методу светлого поля. Он управляется с помощью подключенного контроллера. Используя контроллер, внешнее управление так же возможно.
NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений
Управление моторизированными узлами микроскопа
получения изображений
анализ изображений и обработка
Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
| Базовый блок | Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения |
| Максимальная высота образца | 38 мм * 73 мм при использовании вставки – тубуса |
| Фокусировочный механизм | Слева: грубая и точная фокусировка/ Справа: точная рефокусировка, ход 40 мм, Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки) Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм) |
| Револьверы объективов | LV150N: Шестиместный револьвер Пятиместный универсальный револьвер "Интеллектуальный" пятиместный универсальный револьвер LV150NA: Моторизованный пятиместный универсальный револьвер |
| Эпископический осветитель | Осветитель LV-UEPI-N 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Осветитель LV-UEPI2 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпифлуоресценция, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Ртутный осветитель Intensilight C-HGFI 130 Вт с предварительной центровкой |
| Окулярный тубус | Тринокулярный тубус LV-TI3 ESD (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Наклоняемый тринокулярный тубус LV-TT2 TT2 (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Бинокулярный тубус С-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) Бинокулярный тубус P-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) Тринокулярный тубус P-TT2 (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) |
| Предметный столик | Предметный столик LV-S32 3x2 (Диапазон перемещений: 75 x 50 мм со стеклянной пластиной) Предметный столик LV-S64 6x4 (Диапазон перемещений: 150 x 100 мм со стеклянной пластиной) Предметный столик LV-S6 6x6 (Диапазон перемещений: 150 x 150 мм) |
| Конденсор | Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д. |
| Окуляры | Окуляры серии CFI: 10х (поле зрения 22 мм), 10х фотомаска М (поле зрения 22 мм), 10Х фотомаска поля зрения камеры (поле зрения 22 мм), 15х (поле зрения 14.5 мм), UW 10х (поле зрения 25 мм), UW 10 х фотомаска М (поле зрения 25 мм) |
| Объектив | Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения |
| Энергопотребление | 1,2A/90Вт |
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND
Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений.
Максимальный размер образца: 150 х 100 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND
Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений.
Максимальный размер образца: 150 х 100 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N/L300ND
Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.
Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N/L300ND
Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.
Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L200N/L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L200N/L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.