+7 (495) 909-89-53

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV100ND

микроскоп Nikon смотреть фото LV100ND_1LV100ND_2LV100ND_3LV100ND_4LV100ND_5LV100ND_6

Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND

Максимальный размер образца: 150 х 100 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.

Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений.

Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. Подходит для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Кроме того, возможно выполнять наблюдения по методу фазового контраста и ДИК при диаскопическом освещении. Отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Высокая числовая апертура и большое рабочее расстояние являются залогом высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений. Модель снабжена надлежащей защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками.

Компоненты микроскопа – основание, предметный столик, осветительный блок и др. выполнены в виде отдельных модулей для обеспечения большей универсальности системы, которые можно комбинировать друг с другом для получения системы с нужными характеристиками

Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле 
ДИК
Флуоресценция
Простая поляризация
Фазовый контраст
Двухлучевая интерферметрия

Применение: 
Антенны, Телекоммуникации и электроника, МЭМС, Металлургия, Композиты,Медицинские приборы, Ткани/текстиль, Металлургическая промышленность,Анализ дефектов и причин разрушения, Оптические телескопические системы,Мобильные телефоны, бритвы и часы

Особенности

  • Изучение крупных образцов - позволяет изучать поверхности изделий прецизионного формования, оптических материалов и прочих крупногабаритных образцов

  • Широкий выбор предметных столиков и дополнительного оборудования - выбираются подходящие модули на основании используемых образцов и хода столика

  • Предметные столики других производителей – совместимость с моторизованными предметными столиками других производителей, таких как Prior Scientific со специальными адаптерами позволяет изучать образцы с высотой до 116.5 мм, благодаря чему появляется возможность изучать торцы оптоволокна и других подобных образцов

  • Галогенный источник освещения 12В-50Вт - Несмотря на то, что ламповый блок с предварительным центрированием имеет напряжение12В и мощность 50Вт, его яркость эквивалентна или превышает показатели источников с параметрами 12 В-100Вт. Экологичная галогенная лампа с низким энергопотреблением позволила реализовать компактную конструкцию микроскопа. Также благодаря такому типу освещения значительно снижается расфокусировка, связанная с тепловым воздействием.

  • Светодиодный осветитель - Светодиодный осветитель белого света был разработан специально для работы по методу светлого поля. Он управляется с помощью подключенного контроллера. Используя контроллер, внешнее управление так же возможно. 

  • NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений

    Управление моторизированными узлами микроскопа

    получения изображений

    анализ изображений и обработка

  • Сшивка изображений (большое изображение) - сшивает несколько изображений для увеличения поля зрения. Полученные ранее изображения также могут быть сшиты вместе.
  • Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.

  • Увеличенная глубина резкости (EDF) – комбинирует сфокусированные изображения для разных положений по оси Z и создает трехмерную картинку

Брошюра Nikon LV100ND в PDF

Характеристики

Базовый блок Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения
Максимальная высота образца 38 мм
Фокусировочный механизм Слева: грубая и точная фокусировка/Справа: точная фокусировка, ход 40 мм,
Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки)

Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм)
Револьверы объективов Шестиместный револьвер
Пятиместный универсальный револьвер
"Интеллектуальный" пятиместный универсальный револьвер
Эпископический осветитель Осветитель LV-UEPI-N 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины 
Осветитель LV-UEPI2 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпифлуоресценция, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины 
Ртутный осветитель Intensilight C-HGFI 130 Вт с предварительной центровкой
Диаскопический осветитель Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика)
Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11)
Окулярный тубус Тринокулярный тубус LV-TI3 ESD (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм)
Наклоняемый тринокулярный тубус LV-TT2 TT2 (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм)
Бинокулярный тубус P-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм)
Тринокулярный тубус P-TT2 (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм)
Предметный столик Предметный столик LV-S32 3x2 (Диапазон перемещений: 75x50 мм включая стеклянную пластину),
предметный столик LV-S64 6x4 (Диапазон перемещений: 150x100 мм включая стеклянную пластину)
NIU-CSRR2 Вращающийся предметный столик с керамическим покрытием (Диапазон перемещений: 78х54 мм)
Конденсор Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д.
Окуляры Окуляры серии CFI:
10х (поле зрения 22 мм), 10х фотомаска М (поле зрения 22 мм), 10Х фотомаска поля зрения камеры (поле зрения 22 мм), 15х (поле зрения 22 мм), UW 10х (поле зрения 25 мм), UW 10 х фотомаска М (поле зрения 25 мм)
Объектив Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения
Энергопотребление 1,2A/75Вт

Запросить предложение можно по ссылке или направив нам письмо по адресу info@minateh.ru

Запросить предложение товара

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV100ND

Также Вас может заинтересовать
Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L200N / L200ND

Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L200N/L200ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.

Максимальный размер образца: 200 х 200 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.

Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.

Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L200N/L200ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.

Максимальный размер образца: 200 х 200 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.

Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE L300N / L300ND

Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N/L300ND

Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.

Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.

Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.

Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N/L300ND

Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.

Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.

Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.

Инспекционный микроскоп Nikon ECLIPSE LV150N / LV150NA

Микроскоп падающего  света Nikon ECLIPSE LV150N/LV150NA

Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства.

Максимальный размер образца: 150 х 150 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.

Микроскоп падающего  света Nikon ECLIPSE LV150N/LV150NA

Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства.

Максимальный размер образца: 150 х 150 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.