Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE LV100ND
Максимальный размер образца: 150 х 100 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.
Ручной микроскоп для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса полученияцифровых изображений.
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения. Подходит для наблюдений по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК, эпифлуоресценции и двухлучевой интерферометрии. Кроме того, возможно выполнять наблюдения по методу фазового контраста и ДИК при диаскопическом освещении. Отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Высокая числовая апертура и большое рабочее расстояние являются залогом высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений. Модель снабжена надлежащей защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками.
Компоненты микроскопа – основание, предметный столик, осветительный блок и др. выполнены в виде отдельных модулей для обеспечения большей универсальности системы, которые можно комбинировать друг с другом для получения системы с нужными характеристиками
Возможные методы исследования:
Светлое поле
Темное поле
ДИК
Флуоресценция
Простая поляризация
Фазовый контраст
Двухлучевая интерферметрия
Применение:
Антенны, Телекоммуникации и электроника, МЭМС, Металлургия, Композиты,Медицинские приборы, Ткани/текстиль, Металлургическая промышленность,Анализ дефектов и причин разрушения, Оптические телескопические системы,Мобильные телефоны, бритвы и часы
Изучение крупных образцов - позволяет изучать поверхности изделий прецизионного формования, оптических материалов и прочих крупногабаритных образцов
Широкий выбор предметных столиков и дополнительного оборудования - выбираются подходящие модули на основании используемых образцов и хода столика
Предметные столики других производителей – совместимость с моторизованными предметными столиками других производителей, таких как Prior Scientific со специальными адаптерами позволяет изучать образцы с высотой до 116.5 мм, благодаря чему появляется возможность изучать торцы оптоволокна и других подобных образцов
Галогенный источник освещения 12В-50Вт - Несмотря на то, что ламповый блок с предварительным центрированием имеет напряжение12В и мощность 50Вт, его яркость эквивалентна или превышает показатели источников с параметрами 12 В-100Вт. Экологичная галогенная лампа с низким энергопотреблением позволила реализовать компактную конструкцию микроскопа. Также благодаря такому типу освещения значительно снижается расфокусировка, связанная с тепловым воздействием.
Светодиодный осветитель - Светодиодный осветитель белого света был разработан специально для работы по методу светлого поля. Он управляется с помощью подключенного контроллера. Используя контроллер, внешнее управление так же возможно.
NIS-Elements - Программное обеспечение для анализа изображений
Управление моторизированными узлами микроскопа
получения изображений
анализ изображений и обработка
Измерение вручную и аннотирование изображений - Ручное измерение обеспечивает быстрое измерение длины и площади путем проведения линий или выделения объекта прямо на изображении.Результат измерений можно прикрепить к изображению или экспортировать в текстовый документ или таблицу Excel.
Брошюра Nikon LV100ND в PDF
| Базовый блок | Встроенный источник питания 12В 50 Вт для регулировки освещения |
| Максимальная высота образца | 38 мм |
| Фокусировочный механизм | Слева: грубая и точная фокусировка/Справа: точная фокусировка, ход 40 мм, Грубая фокусировка: 14 мм/оборот (с механизмом регулировки усилия вращения и рефокусировки) Точная фокусировка: 0,1 мм/оборот (шкала 1 мкм) |
| Револьверы объективов | Шестиместный револьвер Пятиместный универсальный револьвер "Интеллектуальный" пятиместный универсальный револьвер |
| Эпископический осветитель | Осветитель LV-UEPI-N 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Осветитель LV-UEPI2 12 В 50 Вт с предварительной центровкой, методы исследования: светлое поле, темное поле, ДИК, простая поляризация, эпифлуоресценция, переключение между методами светлого/темного поля и соответствующее переключение апертурной диафрагмы (с центрированием), полевой диафрагмы (с центрированием). Возможность вставки поляризатора/анализатора, λ-пластины Ртутный осветитель Intensilight C-HGFI 130 Вт с предварительной центровкой |
| Диаскопический осветитель | Осветитель LV-LH50PC 12 В 50 Вт с предварительной центровкой (фасеточная оптика) Диафрагма осветителя (центрируемая) и апертурная синхронизируемые с переключением режимов падающий/проходящий свет; вставные фильтры (ND8, NCB11) |
| Окулярный тубус | Тринокулярный тубус LV-TI3 ESD (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Наклоняемый тринокулярный тубус LV-TT2 TT2 (Прямое изображение, поле зрения: 25 мм) Бинокулярный тубус P-TB (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) Тринокулярный тубус P-TT2 (Инвертированное изображение, поле зрения: 22 мм) |
| Предметный столик | Предметный столик LV-S32 3x2 (Диапазон перемещений: 75x50 мм включая стеклянную пластину), предметный столик LV-S64 6x4 (Диапазон перемещений: 150x100 мм включая стеклянную пластину) NIU-CSRR2 Вращающийся предметный столик с керамическим покрытием (Диапазон перемещений: 78х54 мм) |
| Конденсор | Ахроматический (светлое поле), сухой (фазовый контраст, диаскопический DIC, тёмное поле), и т.д. |
| Окуляры | Окуляры серии CFI: 10х (поле зрения 22 мм), 10х фотомаска М (поле зрения 22 мм), 10Х фотомаска поля зрения камеры (поле зрения 22 мм), 15х (поле зрения 22 мм), UW 10х (поле зрения 25 мм), UW 10 х фотомаска М (поле зрения 25 мм) |
| Объектив | Объективы серий CFI60-2/оптическая система CFI60: в зависимости от метода наблюдения |
| Энергопотребление | 1,2A/75Вт |
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L200N/L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L200N/L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.
Максимальный размер образца: 200 х 200 мм.
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N/L300ND
Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.
Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп проходящего и падающего света Nikon ECLIPSE L300N/L300ND
Модель L300N/L300ND обладает мощными возможностями наблюдения по методу эпифлуоресценции, что расширяет диапазон контроля, включая возбуждение излучения с длиной волны 365 нм. Возможно также диаскопическое освещение и выполнение наблюдений по таким методам, как светлое поле, темное поле, простая поляризация и ДИК. Такие широкие возможности использования различных методов наблюдения очень полезны при контроле остатков резиста на полупроводниковых пластинах и при контроле структуры органических электролюминесцентных дисплеев.
Максимальный размер образца: 14 х 12 дюймов (354 x 302 мм).
Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.
Идеальное решение для контроля полупроводниковых пластин и фотошаблонов как в произвосдтве так и в процессе исследований.
Микроскоп падающего света Nikon ECLIPSE LV150N/LV150NA
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства.
Максимальный размер образца: 150 х 150 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.
Микроскоп падающего света Nikon ECLIPSE LV150N/LV150NA
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства.
Максимальный размер образца: 150 х 150 мм.
Наблюдение образцов можно проводить отраженном свете.